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KIF-FU100,KIF-FSA 激光干涉仪

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---:韩光兵
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竭诚欢迎广大新老客户前来咨询洽谈谈,本公司将以zui热忱的服务和*惠的价格回馈大家.

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光学测量装置

KIF-FU100,KIF-FSA

 
 

KIF-FU100,KIF-FSA是一款安装于KIF-402系列干涉仪上的干涉条纹分析系统,主要用于通过扫描干涉条纹获取测试样本的波相位,以及显示和保存测量结果。

  • 概览
  • 技术规格
  • PDF版产品信息
  1. 省空间
    采用本公司开发的压电控制器和笔记本电脑,大大节省了空间。

  2. 测定速度的提升
    改善了图像数据的读取以及解析算法,提升了测定速度。

  3. 可自动校准
    配上3轴压电载物台(选配件),可自动化进行0干涉条纹的校准作业,从而提高作业效率(球面测定时)。

  4. 解析软件高机能化
    更新为以自动校准机能为中心的解析软件,可对应更精细的需求。

  5. 数码变焦功能
    使用数码变焦功能,可以以0.1的倍率在1倍到3倍内设定倍率,微小工件的确认也变得简单了。

  6. 2D、3D彩色图像显示
    通过2D彩图显示可确认波面相位以及横切面的形状。3D图像能更直观地显示波面相位。

  7. 合格判断功能
    设定规格值,在生产线上可轻松的进行合格判断。并且,还可以设定与客户定义像差相对应的规格值。

  8. 可定制画面
    具有保存、读取画面排版状态的功能,可设定适合使用场所以及产品的排版。

    干涉条纹解析装置,干涉条纹解析软件 KIF-FU100,KIF-FSA:规格
    型号 KIF-FSA
    解析方式 条纹扫描方式
    测定条纹条件 正弦波状强度分布的干涉条纹(不支持多重干涉的干涉条纹解析)
    干涉条纹显示图像尺寸 640×470(像素)
    再现性 PV值:0.01λ(2σ)以下
    RMS值:0.003λ(2σ)以下
    解析功能 PV、Rms、Pwr、As、Coma、Sa3以及Zernike系数的解析与显示
    合格判断功能 PV、Rms、Pwr、As、Coma、Sa3等的规格值设定与合格与否的显示
    3轴压电载物台冲程(选配件) 粗动:±3 mm(XYZ的各轴)
    微动:12 μm(XYZ的各轴)
    使用环境 水平无震动的场所(地面震动±0.8/s²以下)
    温度:23±3 °C
    湿度:60%以下、无结露

    * 因测定时的设置环境不同,可能发生机械性能不能充分发挥的情况。
    * 本装置不保证溯源体系中的精度。

    • 工作参数设定功能
      ・ 产品名、单元名、注释
      ・ Fitting次数(3/4/9/16/25/36)
      ・ 像差清除(像差/Zernike系数)
      ・ 显示单位(λ、μm、nm、条纹)
      ・ 对Zernike系数的offset设定
      ・ 规格值(各像差以及用户定义式)

    • 解析结果显示功能
      ・ P-V、RMS、Pwr
      ・ 赛德尔像差(倾斜、焦点、像差AS、彗差、球面像差)
      ・ Zernike系数(3、4、9、16、25、36项)
      ・ 3维鸟瞰图、2维彩图
      ・ 横切面侧面像(X、Y方向、PV、RMS)
      ・ 合格判断结果

    • 文件输入输出功能
      ・ 工作参数的保存和读取
      ・ 条纹数据的保存和读取
      ・ 影面数据的保存和读取
      ・ 画面版面的保存和读取
      ・ 主窗口打印

     

     

     


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