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KIF-PU 激光干涉仪

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---:韩光兵
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光学测量装置

KIF-PU

 
 

KIF-PU是一款用于分析光学元件的透射波像差的干涉仪。该系统尤其适用于在光学拾波器生产线上评估物镜或准直透镜。

  • 概览
  • 技术规格
  • 软件
  • PDF版产品信息
  1. 无需选择操作员即可进行稳定的测定
    配备了标准的压电驱动载物台的自动调整构造以及软件,降低了调整误差所导致的测定值的变动。该功能在高N.A.光读取头镜片的透过波面测定中发挥威力。

  2. 可以测定405 nm带·650 nm带镜片
    标准装载了405 nm和658 nm两种波长的光源,可通过简单的操作切换测定波长,可对任一方的光学元件进行评价。

  3. 可进行直线/圆偏光切换
    测定在读取头光学元件中使用的具有偏光依存性的被检物时,需要进行直线/圆偏光切换。进行塑料及晶体等具有复折射特性的元件的透过波面测定。

  4. 小型·高刚性
    小型且高刚性的机身,充分考虑到生产现场的使用环境,所以不占空间即可进行快速质量检查。

  5. 可进行合格判断
    在的软件中,通过可任意设置的规格值和合格判断设置功能,能够在生产线中轻松进行合格判断。

透过波面测定干涉仪 KIF-PU:规格
测定波长 405 nm、658 nm(2级激光产品)
干涉方式 Twyman-Green(泰曼-格林)
测定光束径 ø6mm
偏光规格 圆・直线切换
倍率 1×、3×(数码倍率切换)
反射球面N.A. 0.85
焦点
调整
遥控调节 标准装备
解析方式 条纹扫描方式
装置重量 机身:约22 kg(电脑除外)
装置尺寸 机身:330(W)×465(D)×460(H)mm
电源规格 100~240 V AC
50~60 Hz、100 VA
使用环境 水平且无振动的地方(地面振动±0.8 m/s²以下)
温度:23±3 °C
湿度:60%以下、无结露

* 本装置不保证溯源体系中的精度。

特长

 

1.解析结果显示功能

・P-V、RMS、Pwr
・赛德尔像差(倾斜、焦点、AS、彗差、球面像差)
・Zernike系数(3、4、9、16、25、36项)
・3维鸟瞰图、2维彩图
・横切面侧面像(X、Y方向、PV、RMS)
・合格判断结果

 

 

2.文件输入输出功能

・工作参数的保存和读取
・条纹数据的保存和读取
・影面数据的保存和读取
・画面版面的保存和读取
・主窗口打印

 

 

3.影面功能

・影面设定(四角形、圆形、多角形、自动影面)

・自动影面设定

 

 

4.工作参数设定功能

・产品名、单元名、注释
・波长(405/658)
・修整次数(3/4/9/16/25/36)
・像差清除(像差/Zernike系数)
・显示单位(λ、μm、nm、条纹)
・对Zernike系数的offset设定 ・规格值(各像差以及用户定义式)
 


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