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探针台| 硅光自动探针台TS3000-SiPH

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TS3000 SiPH 硅光自动探针系统


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   TS3000-SiPH  功能集提供:
  •  高精度光纤对准系统,在双定位器或单定位器设置中为单个或光纤阵列提供*的灵活性

  • 通过将晶圆包括在光纤接近检测和光纤防撞中,实现的操作

  • *的器件测试温度为-40 ... 100°C; 系统性能-60 ... 300°C

  • 通过在测量架中集成额外的硅光子仪器,*限度地减少系统占用空间



 于硅光子晶圆在片测试:

  • 包括各种高精度光纤选项用于超快速扫描程序的对准系统

  • O-OO-EE-OE-E设备配置的多种测量功能

  • 集成Z感应,用于检测光纤到晶圆接触点

  • 使用两个光纤臂时的防撞保护

  • 建议温度范围为-40100°C,系统支持-60°C300°C的全范围

 灵活的可扩展性:

  • MPI IceFreeEnvironment™,即使在负温度下,也可同时使用MicroPositi和探针卡

  • 可编程显微镜移动更自动化和容易使用。

  • IC测试仪的*短电缆接口

  • *小化mmW的压板到卡盘距离

  • 并使用有源探头进行探测,

  • 支持电帧探测

 人体工程学设计:

  • 从正面轻松装载晶圆或单个DUT

  • 集成主动隔振

  • *集成的探针控制,更快,更安全方便的系统和测试操作

  • 安全测试管理(STM™),具有自动露点控制功能

  • 由于智能冷却器空间布置,减少了占地面积

  • 仪器架选项,适用于较短的电缆和更高的测量动态


 






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