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探针台|硅光自动探针
TS3000 SiPH 硅光自动探针系统
高精度光纤对准系统,在双定位器或单定位器设置中为单个或光纤阵列提供*的灵活性
通过将晶圆包括在光纤接近检测和光纤防撞中,实现的操作
*的器件测试温度为-40 ... 100°C; 系统性能-60 ... 300°C
通过在测量架中集成额外的硅光子仪器,*限度地减少系统占用空间
于硅光子晶圆在片测试:
包括各种高精度光纤选项用于超快速扫描程序的对准系统
O-O,O-E,E-O和E-E设备配置的多种测量功能
集成Z感应,用于检测光纤到晶圆接触点
使用两个光纤臂时的防撞保护
建议温度范围为-40至100°C,系统支持-60°C至300°C的全范围
灵活的可扩展性:
MPI IceFreeEnvironment™,即使在负温度下,也可同时使用MicroPositi和探针卡
可编程显微镜移动更自动化和容易使用。
IC测试仪的*短电缆接口
*小化mmW的压板到卡盘距离
并使用有源探头进行探测,
支持电帧探测
人体工程学设计:
从正面轻松装载晶圆或单个DUT
集成主动隔振
*集成的探针控制,更快,更安全方便的系统和测试操作
安全测试管理(STM™),具有自动露点控制功能
由于智能冷却器空间布置,减少了占地面积
仪器架选项,适用于较短的电缆和更高的测量动态
顶装远传磁性翻板液位
侧装远传磁性翻板液位
高温高压磁性翻板液位
插入式磁性翻板液位计
带保温夹套磁性翻板液
防爆型磁性翻板液位计
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