日本rhesca超薄划痕仪CSR5100

测量薄膜的粘合强度。可以执行符合JIS R 3255的测量。
用于评估DLC，ITO，ZnO，SiO，SiN等。它用于评估光学薄膜，记录盘，半导体等。

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用于评估DLC，ITO，ZnO，SiO，SiN等。它用于评估光学薄膜，记录盘，半导体等。

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用于评估DLC，ITO，ZnO，SiO，SiN等。它用于评估光学薄膜，记录盘，半导体等。