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种子成熟度分析仪

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产品介绍:种子成熟度分析是应用于种子完整度(破损度)分析,可简便、原位、*、快速测量西 瓜、甜椒等果实和种子的成熟度。广泛应用于:种子收获期判断、种子品质鉴定、种子萌发、种子科研和生产、种子抗病性预测。

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技术原理:

通过测量种子种皮内的叶绿素发出的荧光强度,来判断种子内 的叶绿素含量高低,进而判断种子的成熟度和种子的质量。叶 绿素含量越低(叶绿素荧光强度越低),种子成熟度越高。
本技术采用波长 670 nm 的作为激发光,检测波长 730 nm 的 发射峰。与 ISO 10515 方法通过破碎种子测量叶绿素含量不 同,本技术对叶绿素的测量时非破坏性的。本技术的灵敏度非 常高,但并不用于光合作用活性测量。
此外,本技术还可用于检测种子的完整性。破裂的种子会将叶 绿素释放出来,导致测得的叶绿素含量偏高。
一般而言,相同的种子样品,测得的叶绿素荧光越高,表明种子 成熟度越低或 / 和种子破裂度 / 破损度越高;测得的叶绿素荧 光越低,表明种子的成熟度越高。

主要参数:

激发光源:670 nm

检测器:光电二极管检测器,波峰 730 nm

荧光测量:在培养皿传动过程中,每个培养皿自动测量 3000 次

测量时间:45-60 秒

电脑:内置,带 4 个 USB 接口和 1 个网线接口,外接 21 寸 显示器

数据传输:USB,或通过网络传输

尺寸:59 cm x 29 cm x 23 cm

重量:~ 15 kg


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