SS410-XE（OMM，光学测量模块）是一个综合测试型模块，多可以配置三个功能器件，包括CCD相机、光谱辐射计和响应时间模块(RTM)，分别对应不同的测试功能，CCD相机主要用于空间测量，包括点分析、线宽、收敛、时间方差、MTF等；光谱辐射计主要用于测量亮度、色度、均匀度、光谱图、Gamma、对比度等；RTM用于时间测量，包括运动/模糊、上升时间、下降时间、灰度转换时间、闪烁等，可根据具体测量需求进行组合。SS410可以单独安装在支架上进行单点测量，也可以安装在位移台上，用于自动测量显示屏的不同位置。
显示屏光电性能测试仪-平板显示自动光学测试仪-SS410 产品描述：
显示屏光电性能测试仪-平板显示自动光学测试仪-SS410 （OMM，光学测量模块）是Microvision 提供的一个综合测试型模块，多可以配置三个功能器件，包括CCD相机、光谱辐射计和响应时间模块(RTM)，分别对应不同的测试功能，CCD相机主要用于空间测量，包括点分析、线宽、收敛、时间方差、MTF等；光谱辐射计主要用于测量亮度、色度、均匀度、光谱图、Gamma、对比度等；RTM用于时间测量，包括运动/模糊、上升时间、下降时间、灰度转换时间、闪烁等，可根据具体测量需求进行组合。Mircovision SS410可以单独安装在支架上进行单点测量，也可以安装在位移台上，用于自动测量显示屏的不同位置。
工作原理：
SS410光学模块可容纳三个可选的测量设备：一个高分辨率的二维CCD相机、一个衍射光栅光谱仪和响应时间模块或RTM。CCD相机是一种用于空间测量的二维阵列，其高倍放大功能可以详细分析显示特性，例如字符对比度、收敛性、线宽、抖动、射束着陆等，还用于测量显示的较大尺寸几何图形的参数。光谱仪使用衍射光栅和光纤透镜组件来收集光学信息，仅用于颜色和亮度的测量。响应时间模块（RTM）包含一个光电二极管检测器，并包含一个类似CCD相机的光学系统。RTM的主要功能是测量各种LCD显示器的灰度和升降时间。该设计中包含了对视频处理的*控制，这一特性可以实现与UUT真正的帧同步，测量数据可以逐帧地采集和处理。
产品亮点：
应用范围：
升级选项：
技术参数：
CCD相机
Spectrometer光谱辐射计
RTM 时间响应模块
测试案例:
|
|
|
|
|
|
*您想获取产品的资料：
个人信息：
