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扫描狭缝光束轮廓分析仪

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扫描狭缝轮廓分析系统提供高分辨率,但是要求光束小于1µm且价格要高于相机型光束分析仪 !品牌:Dataray型号:扫描狭缝光束轮廓分析仪

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厂家介绍:

美国 DataRay 公司成立于1988年,专业提供激光光束分析仪器,对激光光束的光斑大小,形状和能量分布等参数进行全面的测试和分析;可提供2D或3D的显示,并对分析的结果进行打印输出。适合各种各样的激光光束,帮助你对你的激光光束的品质提供一个量化的结果。

 

应用领域:

  • 通信:光缆加工/熔接、研发

  • 材料加工:焊接、蚀刻、切割

  • 消费设备:光学鼠标

  • 天文

  • 激光制造与品控

  • 光谱学

  • 3D扫描

  • 粒子检测

  • LED:室内照明、车头灯

  • LIDAR:AR、VR

  • 生物医学:眼科手术、激光手术、内部跟踪

 

扫描狭缝光束轮廓分析仪

扫描狭缝轮廓分析系统提供高分辨率,但是要求光束小于1µm且价格要高于相机型光束分析仪。尽管不能给出光束图像,但是在很多情况下XY或XYZθΦ轮廓就可以满足应用要求。

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型号

BeamScopeTM-P8

Beam’RTM2

BeamMapTM2

Profiling or Imaging

精密12bit profiling

主要特点

多功能XY探头

2D+M2选项

精密XY

XYZθΦ Focusing, Pointing, Divergence, Collimation, M2

连续波或脉冲

CW. Pulsed >5 kHz, high duty cycle

CW, Pulsed MinPRR ≈ [500/(Beam diameter in μm)] kHz

波长范围

Si:    190-1150nm

Ge:   800-1800nm

InAs: 1.5-3.9μm

Si:               190-1150nm

InGaAs:          650-1800nm

Si+ InGaAs:       800-1800nm

Si+ InGaAs, ext:   190-2500nm

Profiles: Line、X、XY

Yes

XYZ profiles + θΦ

NA

Yes

超高分辨率

2.0μm

0.1μm

超小光束

100μm

2μm

M2测量

Yes-with M2DU-BSB

Yes-with M2DU-BR

Yes-real-time

Locate Focus

Yes-with M2DU-BSB

Yes-with M2DU-BR

Yes

Pointing/Divergence

Yes-with M2DU-BSB

Yes-with M2DU-BR

Yes

准直

Yes-with M2DU-BSB

Yes-with M2DU-BR

ColliMateTM head

开关增益

42.5dB

32dB

 

 

 

 


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