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XV400 XV400 紫外光谱仪

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简单介绍XV400是一款光谱范围为180nm-430nm的光纤光谱仪。检测器采用滨松线阵背照式CCD, 16-bit A/D采样和75%的量子效率为光谱仪提供高信噪比和大的动态范围。可以广泛应用在理化分析、生物样品、半导体材料检测,光学检测和材料检测等领域。 XV400在0-40度,光谱波长偏移< 0.1nm,具备良好热稳定性,能够应用于定性、定量检测场景。

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XV400是一款光谱范围为180nm-430nm的光纤光谱仪。检测器采用滨松线阵背照式CCD, 16-bit A/D采样和75%的量子效率为光谱仪提供高信噪比和大的动态范围。可以广泛应用在理化分析、生物样品、半导体材料检测,光学检测和材料检测等领域。 XV400在0-40度,光谱波长偏移< 0.1nm,具备良好热稳定性,能够应用于定性、定量检测场景。

特点列表

◆ 响应强度大:在检测物质时光谱响应强度大;

◆ 分辨率高:分辨率<1.0nm@600um 光纤;

◆ 良好的热稳定性:光谱波长偏移< 0.1nm@ 0-40℃, 灵敏度偏差<2%。

规格说明

产品参数
项目
尺寸95×71×41mm
重量:~350g
探测器滨松线阵背照式CCD
波动范围180-430nm
像素2048 *64 有效像元
光谱分辨率<1 nm
信噪比450:1
A/D 采样16bit
暗噪声55 RMS
动态范围1200:1
积分时间4ms-40 second
连接器USB


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