简单介绍XV400是一款光谱范围为180nm-430nm的光纤光谱仪。检测器采用滨松线阵背照式CCD, 16-bit A/D采样和75%的量子效率为光谱仪提供高信噪比和大的动态范围。可以广泛应用在理化分析、生物样品、半导体材料检测,光学检测和材料检测等领域。 XV400在0-40度,光谱波长偏移< 0.1nm,具备良好热稳定性,能够应用于定性、定量检测场景。
XV400是一款光谱范围为180nm-430nm的光纤光谱仪。检测器采用滨松线阵背照式CCD, 16-bit A/D采样和75%的量子效率为光谱仪提供高信噪比和大的动态范围。可以广泛应用在理化分析、生物样品、半导体材料检测,光学检测和材料检测等领域。 XV400在0-40度,光谱波长偏移< 0.1nm,具备良好热稳定性,能够应用于定性、定量检测场景。
◆ 响应强度大:在检测物质时光谱响应强度大;
◆ 分辨率高:分辨率<1.0nm@600um 光纤;
◆ 良好的热稳定性:光谱波长偏移< 0.1nm@ 0-40℃, 灵敏度偏差<2%。
产品参数 | |
项目 | 值 |
尺寸 | 95×71×41mm |
重量: | ~350g |
探测器 | 滨松线阵背照式CCD |
波动范围 | 180-430nm |
像素 | 2048 *64 有效像元 |
光谱分辨率 | <1 nm |
信噪比 | 450:1 |
A/D 采样 | 16bit |
暗噪声 | 55 RMS |
动态范围 | 1200:1 |
积分时间 | 4ms-40 second |
连接器 | USB |
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