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CCD 或CMOS影像感测组件量子效率/光谱响应量测。
产品特色
可量测单一像素点的量子效率。
光谱响应/量子效率量测仪
可量测全数组像素量子效率。
可产生各种所需单色光均匀光源，自动化校正各单色光、特定单色光入射光子数。
可量测CRA特性（选配）
软件可配合用户需求修改（选配）。
为全自动化设计，操作简易。
光谱响应/量子效率量测仪
CCD 或CMOS影像感测组件量子效率/光谱响应量测。
产品特色
光谱响应/量子效率量测仪系统优势:
*QE-IS系统采用光焱科技研发多年的单色光均光系统具备下列多项优势:
*高均匀度
*可产生高均匀度的单色光光斑，在10x10mm2面积内均匀度可以>99%，在20x20mm2面积内仍可维持在>98%。与积分球系统相较，具有更佳的均匀度表现。
*高光强度、高讯噪比
*QE-IS高效率均光系统，以550nm单色光为例，在QE-IS系统光均面的光强度可>5 uW/cm2，相较于积分球系统的单色光强仅1x10-8 uW/cm2，两者差距千万倍，QE-IS系统量测具备的讯噪比，可精确测出感光组件的量子效率等相关光学特性。
*可作单像素QE量测
*因QE-IS单色光强度足够(5 uW/cm2@550nm)，打在1 um的像素单元，产生的光电流约在20 pA，相较于积分球系统产生的单一像素光电流在sub-fA以下，QE-IS系统可直接用于量测数组感光组件上，任何单一像素的量子效率。
*可作全数组像素QE量测
*除单一像素量测，QE-IS可整合或是被整合于使用者自行开发的感光组件的数字电路讯号，以量测全数组像素QE。
*可作CRA量测
*QE-IS的均匀单色光发散角度< 5度，相较积分球的发散角度 >90度，搭配选配的旋转平台，即可量测CRA(Chief Ray Angle)特性。无需额外添购系统，方便整体的量测。
QE-IS與傳統積分球系統的特性比較表
| 项目 | QE-IS 光学系统 | 传统积分球系统 |
| 光均面均匀度 (10 mm x 10 mm) | > 99 % | > 99% |
| 光均面位置 | 距均光系统出口300 mm | 积分球开口处 |
| 光均面光强度 | > 5 uW/cm2 | 10-8 uW/cm2 (1米积分球) |
| 单像素QE量测 | 可(光强足够) | 否(光强度过低) |
| 发散角度 (半角) | < 5度 | > 90度 |
| 可否量测CRA | 可 | 否 |
产品规格
1. 适用影像组件尺寸: 1/4"、1/3"、1/2"、2/3"、1"
2. 单色光光谱范围: 350~1100 nm (可扩充)
3. 电流分辨率: < 1pA (一般), 电流计小解析能力: 10 fA , 5-1/2 digit resolution
4. 均匀光源规格: 10 mm x 10 mm
5. 光均匀度> 99 %
6. 单色光源角度: < 5° (半角)
| 项目 | 指标及说明 |
| 连续光源系统 | 75 W 氙灯电源供应器 |
| 单色仪 | 焦长 < 120 mm |
| 自动杂光滤镜转轮 | 可装载6片杂光滤镜，手自动控制， |
| 波长范围 | 350 nm ~ 1100 nm (可扩充) |
| 光能量校正 | Si侦测器，BNC接口，附校正报告 |
| 单色光均光系统 | 光斑大小: 45 mm x 45 mm |
| 电流计 | 5-1/2 电流计 |
| 控制系统 | PC, LCD |
| 标准控制软件 | 各波长光强度校正 |
| 选配 | |
| 客制化影像模块样品座 | 依客户需求设计定制 |
| CRA旋转平台(Chief Ray Angle) | 360度旋转平台 |
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