绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统

面对电子产品越来越小型轻量及高密度封装，因结露吸湿等因素造成的绝缘bu良现象暨离子迁移现象日益突出，绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统配之以高温高湿试验箱联动，可连续监测，高效简便评估因离子迁移现象引起的寿命及绝缘电阻劣化相关问题。

绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统

产品介绍

面对电子产品越来越小型轻量及高密度封装，因结露吸湿等因素造成的绝缘bu良现象暨离子迁移现象日益突出，绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统配之以高温高湿试验箱联动，可连续监测，高效简便评估因离子迁移现象引起的寿命及绝缘电阻劣化相关问题。适用标准：JPCA-ET04、IPC-TM-6502.6.3F、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A、IPC-TM-650_2.6.3.6。                        

高精测量                          

连续通电扫描继电器方式，配备标准的测量仪表，与环境试验箱联动，操作更简便更安全。

应力电压范围广泛                                                  

标配100V应力电压（应力电压/测量电压），更有300V、500V高电压规格备选。                      

连续通电扫描方式                        

ESPEC具有扫描动作技术，切换扫描时不发生无电压状态，测量电压与偏置电压均使用同一电压源控制，可准确控制电压。

漏电流检测功能                                              

高速准确捕捉离子迁移现象发生的细微变化，离子迁移实时监测。                                      

统计软件                            

[E-Graph]可实时编辑预览监测实时获得的数据。

连接样件夹具                    

选配可使连接样品及线缆更方便，试验效率更高。