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FT110A 微焦斑 XRF 光谱仪

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微焦斑 XRF 光谱仪
微束XRF涂层厚度和材料分析仪,方便快速进行质量控制和验证测试,在几秒内即可获得准确的数据。
基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。

详细信息 在线询价

FT110A 微焦斑 XRF 光谱仪 – 测量 极小目标
 

  FT110A 帮助诸多的行业确保符 合电镀规范,以避免出现性能低 下的风险以及与废料或返工相关 的成本。此外,该仪器可减少一 系列测量所需的时间,从而帮助 提高生产力。
 

  在任何质量保证或质量控制系统中,准确性和可 靠性均至关重要,拥有改良的 X 射线荧光技术的 FT110A将使您的产品满足高标准的行业规范 要求。
 

  借助更新的成像系统、全新的自动测量定位功能 和大型样品台,确保这台镀层分析仪易于使用并 提高分析效率。
 

  基于 Windows 系统的 X-ray Station软件提供直观 的用户界面,用户可对该仪器进行全面控制。通 过将数据直接整合到 Microsoft™ Word 和 Excel 中来简化您的质量保证/质量控制流程。
 

  为何如此多的实验室改 为使用FT110A 微焦斑 XRF 光谱仪?
 

  快速分析 强大的高灵敏度分析组件可以在数秒内测量 镀层厚度和成分。
 

  无损 X 射线荧光是无损分析过程,不留下任何痕迹。即使是对敏感性 材料,其测量也是安全的;同时无需丢弃被测量过的样品。
 

  提高生产力 FT110A 的自动化功能意味着您可以更快地准备和测量样品, 从而提高您的分析量。
 

  多功能性 FT110A 可以分析多达四层镀层和基材。可以使用基本参数 (FP) 或经验校准来测量镀层和材料成分(如金属合金或电镀液)。
 

  易于使用 培训可轻松完成,因此任何人都可以操作 FT110A。只需在工作 台上设置样品,借助友好的界面指定测量区域,然后开始记录 读数。用户界面可配置为仅显示日常操作所需的功能。
 

  兼容性 测量方法符合标准 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987。
 

  强大性和灵活性
 

  FT110A 拥有一系列标准功能,能够以从未有的快速性和简便性测量镀 层厚度,而操作员可以通过选择多种 选项来对其进行调整和增强...
 

  特点
 

  多准直器组件 - 0.1 和0.2 毫米双准直器是标准配置, 可灵活处理不同尺寸的零件。 广泛的分析范围 - 可确定从钛 (22) 到铀 (92) 等元素的 镀层厚度。 校准和 FP 方法 - 使用经验和基本参数方法来确定薄膜 厚度和成分。 大型测量室尺寸 - FT110A 可容纳尺寸高达 500 x 400 x 150 毫米且重量达到 10 千克的样品。 一键式测量 - 使用中心搜索功能进行简化的自动测量意 味着几乎任何人都可以测试样品。
 

  可选件
 

  四准直器组件 - 通过加入 0.05 毫米和 0.025 x 0.4 毫米 准直器,FT110A 的多功能性得以显著提升。 广视角相机 - 获取样品的鸟瞰图,然后快速放大您选择 的测试区域。 自动对焦功能 - 无论样品厚薄或大小如何,FT110A 都 可在几秒钟内自动对样品进行对焦。可从远至 80 毫米 (3.1 英寸)的距离测量样品,非常适合测量具有凹陷 区域的零件,或者适用于测量不同高度的多个样品。 图像处理软件 - 使用图案识别软件快速的对复杂样品进 行分析。操作员只需将测量区域放入视域,软件就会自 动进行位置微调。
 

  40多年来,日立分析仪器一直走在 X 射线荧光技术应用的前沿,并开发了全系列的分析仪器。
 

日立分析仪器(上海)有限公司

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