FT160 XRF镀层分析仪

新型FT160 XRF镀层分析仪适用于当今微型电子器件的先进微焦斑和超薄镀层分析仪

纳米级镀层的快速、准确分析
 

　　FT160 XRF镀层分析仪准确、可靠地测量小部件上的镀层，有助于您在PCB、半导体晶片和微连接器上维持一致且准确的镀层。
 

　　FT160专为微焦斑和超薄镀层分析而设计，针对小部件的测量优化了光学系统和探测器技术。
 

　　使用FT160 XRF镀层分析仪可实现更多操作：
 

　　高强度X射线——仪器的核心是一个具有30μm光束的新型毛细管光学系统，非常适合微小的半导体图案和超小组件。
 

　　高灵敏度的SDD探测器——这款高性能设备使计数速率翻倍，从而提高生产率。
 

　　高清相机——观察相机的分辨率高，其具有16倍数字变焦功能，更容易观察半导体和PCB表面并易于导航。
 

　　智能控制器软件——可对FT160进行依照形状和图案自动查找测量位置的编程，以提高测量吞吐量和准确性。
 

　　精密分析
 

　　样品台定位精度和毛细管X射线光学系统能提供高精度，可测量尺寸小于50µm的部件上的纳米级镀层。
 

　　快速分析
 

　　与传统装置相比，FT160内的新型高强度毛细管光学系统和改良版SDD探测器有助于使仪器的测量吞吐量翻倍。
 

　　多功能性
 

　　大型样品门有助于轻松装载和移除部件，同时大型样品台可容纳各种形状和尺寸的组件。
 

　　耐用性
 

　　坚固耐用的机架经过设计和测试，可在具有挑战性的生产或实验室环境中长时间使用。
 

　　FT160的强大功能使其成为工作繁重的实验室的理想选择。为维持工作流程，这些实验室注重准确性、多功能性和分析效率。
 

　　FT160能够提供：
 

　　|毛细管光学系统和高灵敏度的SDD探测器，以提供出色准确性。
 

　　|测量尺寸小于50µm的部件。
 

　　|快速结果和使用简易性，以支持高吞吐量。
 

　　|用于快速设置样品的大型样品门和样品台。
 

　　|进行测试观察的大型样品观察窗。