ZLS（初代） Nicomp 380亚微米粒度分析仪

Nicomp 380亚微米粒度分析仪利用动态光散射（DLS）原理，得到了粒径在0.5~6微米之间的胶体体系的颗粒尺寸分布。DLS的工作原理是用聚焦激光束照射悬浮中的一组粒子，从而产生许多散射光波。

ZLS(初代)​ Nicomp 380亚微米粒度分析仪

动态光散射

Nicomp 380亚微米粒度分析仪利用动态光散射(DLS)原理，得到了粒径在0.5~6微米之间的胶体体系的颗粒尺寸分布。DLS的工作原理是用聚焦激光束照射悬浮中的一组粒子，从而产生许多散射光波。这些波互相干扰，产生净散射强度，在某个遥远的探测器上随时间的变化而波动。粒子的扩散，或布朗运动，会导致单个波的相位随机变化，导致光强度的波动。用自相关器分析这些涨落的时间行为可以得到颗粒的粒度分布。单个均匀尺寸分布的自相关函数是一个衰减的指数函数，其中粒子扩散率很容易从衰变时间中得到。后，利用Stokes-爱因斯坦关系可以很容易地计算出粒子半径.

一般来说，大多数样品不是均匀的，相反，它们通常是多分散的，有一定的粒径范围。然后，自相关函数由衰减的指数函数组合而成，每个函数具有不同的衰减时间，对自相关函数的分析不再十分简单。采用变反褶积算法的仪器必须对原始数据进行反演，才能得到真实粒径分布的估计值。Nicomp利用一组*的反褶积算法，从简单的高斯近似到一种称为“Nicomp分布”的专有高分辨率多模态反褶积分析，在描述这些困难的颗粒尺寸分布方面做得很好。

在高斯分析模式下发现的一些*的特征是基线调整参数，它提供了总补偿，超越了其他大多数使用灰尘或污垢因素的仪器上的灵敏度。高斯分析模式还允许用户一个固体或囊泡加权模式来分析像脂质体这样的薄壁胶体系统。Nicomp分析模式是一种专有的高分辨率反褶积算法，它是25年前*引入的。它在历*证明了它能够准确地分析即使是困难的紧密间隔的双峰(例如，2：1的间隔)，甚至是某些三模态分布。这对于查找聚集分布的本机峰值非常有用。

标准的Nicomp 380配有12 mW激光二极管和PMT探测器，光纤设定为90°。样品是通过插入单元引入的，380是仅有采用模块化方法设计的动态光散射仪。可以通过增加一个或多个模块来增强其能力：

自稀释

该模块不需要人工稀释浓缩样品。自动稀释使粒度分析快速、简便，不需要任何训练。结果重复性好。

380/HPLD大功率激光二极管

PSS提供了一个高功率激光二极管阵列，以满足我们需要的应用。需要更高功率的激光来扩展我们仪器的下限，提供足够的来自小粒子的散射。它们在测量大颗粒时也很有用，如右旋反式，由于折射率的原因，这些粒子产生的散射强度不足。其结果是一种更通用的仪器，适用于微乳液、表面活性剂胶束、蛋白质和其他大分子的施胶。它甚至可以估计重组后生物聚合物的聚集程度，而不需要色谱分离。

雪崩光电二极管(APD)探测器

Nicomp 380可以配备各种高功率激光器以及高增益雪崩光电二极管探测器(APD)，它提供的增益大约是传统光电倍增管的7倍。APD是用来增加信号对噪声和灵敏度的系统，但不能很好地散射光。蛋白质、胶束、其他以大分子为基础的系统和纳米粒子往往被稀释(1毫克/毫升或更少)，并且是由不能很好地散射光的原子组成的。雪崩光电二极管与名义上更高功率的激光二极管模块相结合，为在短时间内精确分析纳米粒子提供了一种低成本的解决方案。

380/MA多角度测速仪

大于100 nm的粒子不会向所有方向均匀散射光。通过改变探测角度，可以使DLS测量对某些尺寸的粒子更加敏感。Nicomp 380可配备微型测角仪，使光纤以0.9°增量的速度在12°至175°之间移动。

Zeta电位

Nicomp 380/ZLS用于测定液体悬浮液中带电粒子的电泳迁移率和Zeta电位。测量Zeta电位的主要原因是预测胶体的稳定性。颗粒间的相互作用对胶体的稳定性起着重要的作用。利用Zeta电位测量来预测稳定性是量化这些相互作用的一种尝试。Zeta势是测量粒子间排斥力的一种方法。由于大多数水胶体系统是通过静电斥力来稳定的，粒子间的排斥力越大，它们就越不可能紧密地聚集在一起。这样胶体就越稳定。Nicomp 380/ZLS将动态光散射(DLS)技术和电泳光散射(ELS)技术相结合，在一台紧凑型仪器中测量了亚微米级的粒径分布和Zeta电位。

Nicomp 380/ZLS采用电泳光散射(ELS)方法测量Zeta电位。为了进行测量，一个小样本通常被放置在一个一次性塑料容器中。然后插入钯电极。整个细胞被放置在Nicomp 380里。由于*的单元设计，因此不需要将单元与固定平面对齐。在单元格就位后，只需简单地单击鼠标即可开始测量。由于ELS需要使用外差光，因此在进入探测器之前，散射光必须与参考光束(从入射光束中分离)适当地混合。该软件将通过自动调整入射光强度来开始测量，以优化散射光与参考光束之间的混合。一旦完成，当电场关闭时，测量参考功率谱。然后施加电场，测量另一个功率谱。与参考谱相比，这个功率谱中的峰值频率的变化是多普勒频移。多普勒频移用于计算平均迁移率。利用Smoluchowski方程确定了Zeta势。

自动滴定器

Autoitrator模块使Nicomp 380/ZLS能够在一系列不同的pH值或离子浓度下自动对同一样品进行多次测量。这样就可以确定等电点.

相位分析光散射(PALS)

使用相位分析(而不是标准幅度分析)可以更准确和精确地测量小多普勒频移。这意味着Zeta电位测量可以在高离子强度或高介电环境(如醇和有机溶剂)中进行。