ST2000-DLXn 薄膜厚度测量仪

1996年以来，科美在半导体，平板显示器，电子物质，生命科学和化学分析上，研发和提供了*的，*的解决方案。科美，作为测量和分析技术市场上的领头和动力，以它突出的表现得到了世界范围的认可。

• 技术参数

• 活动范围 150 x 120mm（70 x 50mm 移动距离）
  测量范围 200?~ 35?（根据膜的类型）
  光斑尺寸 20? 典型值
  测量速度 1~2 sec./site
  应用领域 聚合体: PVA, PET, PP, PR ...
  
  电解质: SiO2 ,TiO2 , ITO , ZrO2 , Si3N4 ..
  
  半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
  
  选择 参考样品（K-MAC or KRISS or NIST）
  探头类型 三目探头
  nosepiece Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
  照明类型 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer

• 主要特点

• 尺寸 190 x 265 x 316 mm
  重量 12Kg
  类型 手动的
  测量样本大小 ≤ 4"
  测量方法 非接触式
  测量原理 反射计
  特征 测量迅速，操作简单
  
  非接触式，非破坏方式
  
  优秀的重复性和再现性
  
  用户易操作界面
  
  每个影像打印和数据保存功能
  
  可测量多达3层
  
  可背面反射