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测厚仪的原理及应用

2021年11月15日 15:09人气：585

　　测厚仪是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)。

　　射线在穿透一定的物质时，其强度的呈指数规律衰减，这和半衰期的公式相似，其公式为: I=Ir*EXP (-UX) ，Tr 为初始射线强度，I为穿过物体后的射线强度，U为衰减系数，X为射线穿过的厚度。

　　对于不同的材料，其U值是不同的，因此使用射线测量厚度时必须知道被测材料的U值一般而言密度越大的材料其U值就越大，比如铅的密度在天然非放射性元素中的密度是最大的，相应的射线阻挡能力就越强，因此在核技术实验中用作屏障，与之类似的就是铅玻璃。

　　测厚仪分为激光测厚仪、X射线测厚仪、纸张测厚仪、薄膜测厚仪、涂层测厚仪、超声波测厚仪等。

　　激光测厚仪是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。

　　X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，沧州欧谱从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。主要应用行业：有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工。

　　纸张测厚仪：适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。

　　薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。

　　涂层测厚仪：用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度。

　　超声波测厚仪：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。

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