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膜厚测量仪 膜厚测量仪

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称 北京锦坤科技有限公司
  • 品牌
  • 型号 膜厚测量仪
  • 所在地 北京市
  • 厂商性质 生产厂家
  • 更新时间 2016/1/10 15:00:00
  • 访问次数 480

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本膜厚测量仪适用于nm及um级薄膜厚度测量,测量的空间分辨率(测量点的大小)可达10um,厚度测量准确度为nm级。

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膜厚测量仪的特点:本膜厚测量仪适用于nm及um级薄膜厚度测量,测量的空间分辨率(测量点的大小)可达10um,厚度测量准确度为nm级。

此款膜厚测量仪适用于:

显示器、触摸屏、太阳能电池、R2R 光学镀膜等产业的薄膜厚度测量
光学材料参数测量、彩色滤光片色度及穿透率测量。(如:Oxide, Nitride,
ITO, RGB CF, PR, PI…@ Si, Glass, PET…等样品
 
膜厚测量仪的技术参数:
1.厚度测量范围:10 nm ~ 30 μm (采用Ocean Optics 光谱仪
(Optional: up to 250 μm)
2.厚度测量重复性:< 1 nm @ 500 nm Oxide on Si
3.测量点大小 : Macro(~3 mm)
(Optional 选项加显微镜 : 10 μm – 3 mm)
4.测量时间:< 1 sec
5.其它功能:折射率(n)及消光系数(k)测量
反射率(R)及穿透率(T)测量
色度参数(x, y, Y, L*, a*, b*)测量
(Optional:在线检测、实时8-16 通道测量
6. 机台尺寸:长宽高约31*27*30 (cm)。


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