TTR III系列 强力转靶组合式多功能X射线衍射仪

强力转靶组合式多功能X射线衍射仪TTR III系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪，它采用了理学*的CBO交叉光学系统，一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构，通过对各个单元的不同组合，可以进行各种测试。

仪器简介：

强力转靶组合式多功能X射线衍射仪TTR III系列是当今超高档次的商品化X射线衍射仪。

强力转靶组合式多功能X射线衍射仪TTR III系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪，它采用了理学*的CBO交叉光学系统，一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构，通过对各个单元的不同组合，可以进行各种测试。

主要特点：

可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。
可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料
可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品

 技术参数

1. X射线发生器功率为旋转阳*力转靶18KW
2. 测角仪为水平测角仪
3. 测角仪小步进为1/10000度
4. 测角仪配程序式可变狭缝
5. 高反射效率的石墨单色器
6. CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学*）
7. 小角散射测试组件
8. 多用途薄膜测试组件
9. 微区测试组件
10. In-Plane测试组件（理学*）
11. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC
12. 分析软件包括：XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等

主要的应用有：
1. 粉末样品的物相定性与定量分析
2. 计算结晶化度、晶粒大小
3. 确定晶系、晶粒大小与畸变
4. Rietveld结构分析
5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度
6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
7. 小角散射与纳米材料粒径分布
8. 微区样品的分析