XRD 平板探测器

XRD平板探测器,X射线数字成像检测系统是基于8英寸非晶硅传感器的二维光电二极管阵列，具有200微米像素尺寸，接收区域200mm*200mm，X射线通过闪烁屏转换为光电子并被光电二极管转化为数字信号，16位数字化信息可实现高动态范围及对比度，使检测图像边界轮廓清晰。

应用领域：医疗卫生,电子,航天,汽车,电气

特点：

（1）XRD 0822 AP X射线数字平板探测器是基于8英寸非晶硅传感器的二维光电二极管阵列，具有200微米像素尺寸，成像区域200mm*200mm，X射线通过闪烁屏转换为光电子并被光电二极管转化为数字信号，16位数字化信息可实现高动态范围及对比度，使检测图像边界轮廓清晰、质量媲美胶片。

（2）XRD 0822 AP X射线数字平板探测器具有检测速度快(非像素合并时帧速可达25fps)、可接收320kV的X射线直接照射等特点，被广泛应用于工业领域X射线检测。

技术参数：

面板            转换屏          DRZ-PLUS

                  像素数目        1024×1024

                  像素间距        200µm

                  动态范围        ≥88db

                  灰度等级        65536(16bit)

                  帧速度           25fps @200µm

                                   50fps @400µm

                  能量范围        20～450Kev

电子设备       电荷放大器      8×128通道ASIC

                  增益调节       0.25/0.5/1/2/4/8pF共6级可设置

                  ADC转换        16bit

                  非线性         ≤1%