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TMS TMS透光率检测仪

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TMS是一套全波长的0度角透过率检测仪,能快速准确地测量各类平面光学元件的透光率,可用于实时在线检测,实现产品全检。适用于棱镜、镀膜镜、胶合镜、平行平板、太阳膜、滤光片等平面光学元件的检测。

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TMS全光谱透光率仪是一套全波长的0度角透光率仪,能快速准确地测量各类平面光学元件的透射率,可用于实时在线检测,实现产品全检。适用于各种光学元件、平面玻璃、滤光片、镜筒、IR油墨孔镀膜镜片、显示屏、手机屏、触摸面板等产品透光率测量。

TMS全光谱透光率仪产品特点:

1、 采用*光谱测量技术,快速全光谱透过率测量。
2、 实时显示各波段
透光率数据跟光谱曲线。
3、 用户可自定义测量方案,设置平均透过率跟标定标准。
4、 可计算CIE颜色参数,xyLab、主波长、饱和度、色纯度等参数。
5、 专业测试软件,可根据实际操作需求设定、储存及打印列表资料
6、 检测光斑可调,适合各种大小的样品

 

TMS全光谱透光率仪-技术参数

 

型号TMS(I型)TMS型)
探测器Sony线形CCD 阵列Hamamatsu背照式2D-CCD
检测范围380-1000nm360-1100nm
波长分辨率1nm1nm
信噪比(全信号)250:11000:1
相对检测误差﹤0.5%(400-800nm﹤0.2%(400-800nm
单次测量时间﹤1s
样品尺寸Φ1mm
操作系统/接口Windows XP, Windows Vista/ USB2.0
电源/功率220V-50HZ /6W

TMS全光谱透光率仪-*的软件设计

  • 智能化软件操作:可自定义测量方式和角度,实时显示测量样品关注波长位置的透/反射率数据,自动调整显示坐标范围,高效地进行批量样品检测及谱图对比分析。
  • 谱图管理:可同时记录多达20个样品谱图,批量保存测量结果,记录谱图测试积分时间,能对谱图进行更名、定义颜色、选择是否显示、加粗等操作,zui大程度地方便了谱图的管理和分析。
  • 自定义测量方案:用户可以自行定义测量的方案,同时设置判定标准,使检测更快速,结果更准确。
  • 谱图数据处理功能:备有丰富的光学元件数据库,可根据数据库已存标准数据对比分析结果,用户可自行对数据库进行添加、修改和删除,还可将测量数据导入Excel有利于进一步对谱图进行分析和研究。
  • CIE颜色测量功能:可以计算样品各种CIE颜色参数, x,y,L,a,b,饱和度,主波长等。
  • 数据报告打印功能:可快速批量打印样品测量数据及谱图,自定义测量报告出具单位名称。


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