迅速测定ppm级的有害金属！
应对WEEE & RoHS、ELV等有害物质相关法规。
应对ASTM F963,EU_EN71美国和欧盟的玩具法规和指令，保证产品和用料的绿色环保。
Ｘ射线荧光分析装置是使用Ｘ射线照射样品，对产生的荧光Ｘ射线的能量进行检测，测定构成样品的元素种类及含量的装置。可无损地进行固体、粉体、液体、磁盘、单晶片等的元素分析，广泛应用于各个领域。
EDX-720的新功能：
| 更高灵敏度的新型能量色散型X射线荧光分析装置！ 在所有机型上配备全新的测定·解析功能！追求更高的分析精度。 |
通过配置新型1次滤光片和高计数电路，灵敏度比以往机型提高2倍以上！
配备新型1次滤光片
为提高Cd、Pb等有害重金属的检测灵敏度，采用2 种新型滤光片。通过提高S/N比、降低散射线，得到了比以往机型更高的灵敏度。
计数系统的改进
经过改进，系统能够更高效地检测从样品产生的X射线荧光。以此降低了检测器的饱和，可进行较以往机型更高输出的测定。并有助于提高分析精度。
PVC 树脂样品的测定结果比较
根据目的自动选择符合测定时间、样品类型的工作曲线！
时间缩短的功能
| 通过在测定前预先设定目标管理精度，当达到管理值时，自动结束测定。特别是在目标元素含量较高时，可在短时间内自动结束测定。既提高了分析效率，又无需以往根据经验设定测定时间，就可得到目的精度的分析结果，因此，便于管理。 | 在测定前输入目的精度 |
| 使用工作曲线法进行定量时，需要使用与实际样品具有相近组成/形态的标准样品制作工作曲线。根据主成分峰的差异，判断样品类型，选择的工作曲线，进行定量。 比如，在PVC树脂和PE树脂分析中，通过监测有无Cl，对每一样品自动选择的工作曲线。 | |
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