BA-100 Optics 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪

美国博曼（Bowman） BA-100 Optics 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析，以及电镀液分析。Bowman BA-100 Optics 机型采用业界的多孔毛细管光学聚焦装置，有效缩小测量点斑点的同时，可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。

美国博曼（Bowman） BA-100 Optics 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪

产品描述：

台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析，以及电镀液分析。

Bowman BA-100 Optics 机型采用业界的多孔毛细管光学聚焦装置，有效缩小测量点斑点的同时，可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。

Bowman BA-100 Optics 机型配备大面积的SDD（硅漂移探测器），有效拓展元素分析范围，适应zui严格的微区、超薄镀层，以及痕量元素分析需求。

优xiu的测试性能、突出的微区测量能力，Bowman BA-100 Optics机型是研究开发、质量管控的*XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。

稳定的X射线管

       •  微聚焦50瓦Mo靶射线管（其它靶材可选）; 小

         于100um的测量斑点

       •  射线出射点预置于射线管Be窗正中央

       •  长寿命的射线管灯丝

       •  *的预热和ISO温度适应程序

多毛细管聚焦光学结构

       •  显著提高X射线信号强度

       •  获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度

       •  小于100um直径的测量斑点

       •  经过验证，接近*的测量精度

应用领域：

常见的镀层应用: 
PCB行业 
Au/Pd/Ni/Cu/PCB 
引线框架 
Ag/Cu 
Au/Pd/Ni/CuFe 
半导体行业 
Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材 
Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材 
线材 
Sn/Cu 
珠宝、贵金属 
10,14,18Kt 
元素分析、合金分类、杂质分析、溶液分析、电镀液分析等