BA-100 BA-100台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪

BA-100台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪

BA-100台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪产品描述：

BA-100台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪美国博曼（Bowman）BA-100 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析，以及电镀液分析。

BA-100台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪美国博曼（Bowman）分析仪器即使在客户遇到zui严格的测试要求时也能够实现快速、方便、高效的XRF分析效果。

BA-100台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪智能的紧凑式设计使得分析各种各样的应用变得更方便，在合理的价格范围内显著提升您的镀层产品质量控制。

性能与可操作性的*化

•        紧凑式设计，改善效率和精度

•        高分辨半导体固态探测器（Si-PIN），提高稳定性和灵敏度

•        更短的预热时间，更长寿命的光管

•        多种规格一次滤波器和准直器

•        可变焦距适应复杂样品的测量需求

•        模块化设计，方便维修、维护

简单的设计、强大的分析能力

•        快速、无损的分析

•        成份分析zui多可达25种元素

•        同时可zui多分析5层

•        基于基本参数法的镀层和成份分析方法

•        仅需一根USB线与电脑连接

•        快捷的面板控制按钮

•        占用空间小、轻量化设计

直观的用户界面

•        zui大的分析灵活性，减少用户出错机会

•        基于Net framework框架的Xralizer软件

•        直观的图标引导用户界面

•        强大的定性、无标样分析功能

•        功能强大的标准片库

•        用于快速分析的可定制快捷键

•        灵活的数据显示与导出

•        强大的报告编辑生成器

应用领域：

常见的镀层应用： 
汽车 
Cr/Ni/Cu/ABS 
Zn/Fe 
线路板 
Au/ENi/CuPCB（ENIG） 
Ag或Sn/CuPCB 
引线框架和连接器 
Au/Pd/Ni/Cu Alloys 
Au/Ni/Ni/Fe 
紧固件 
ZnFe/Fe 
ZnNi/Fe 
切削工具 
TiCN/WCo 
TiAlN/WC 
五金和管道固定装置 
Ni/Cu 
Cr/Ni/Cu/Zn 
通讯和数据储存设备 
NiP/Al 
珠宝、贵金属 
10,14,18Kt 
元素分析、合金分类、杂质分析、溶液分析、电镀液分析等