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FT9500 X射线荧光镀层厚度测量仪
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具体成交价以合同协议为准
- 公司名称 惠州市华高仪器设备有限公司
- 品牌
- 型号 FT9500
- 所在地 惠州市
- 厂商性质 经销商
- 更新时间 2018/7/26 16:03:15
- 访问次数 598
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X射线荧光镀层厚度测量仪 FT9500系列
1. 薄膜・多层膜测量
2. 异物分析
3. 数据编辑功能
4. 高强度照射
X射线荧光镀层厚度测量仪 FT9500系列通过采用新型的毛细管（X射线聚光系统）和X射线源，把与以往机型FT9500同等强度的X射线聚集在30 µmΦ的极微小范围。因此，不会改变测量精度即可测量几十微米等级的微小范围。
同时，也可对几十纳米等级的Au/Pd/Ni/Cu多镀层的各层膜厚进行高精度测量。
X射线荧光镀层厚度测量 FT9500系列通过高能量微小光束和高计数率检测器的组合，可进行微小异物的定性分析。利用CCD摄像头选定样品的异物部分并照射X射线，通过与正常部分的能谱差进行异物的定性分析（Al～U）。
X射线荧光镀层厚度测量 FT9500系列配备了Microsoft® Excel和Microsoft® Word。在Microsoft® Excel上面配备了统计处理软件，可以进行测量数据、平均值、zui大/zui小值、C.V.值、Cpk等的统计处理。 另外，通过Microsoft® Word可以简单的制作包含了样品画图的测量报告书。
X射线荧光镀层厚度测量 FT9500系列X射线荧光镀层厚度测量 FT9500系列通过高强度照射在微小部分也可以鲜明的观察、聚焦位置。
X射线荧光镀层厚度测量 FT9500系列配备等同与FT9550X的大型样品台，能够对大型线路板等样品进行整体排列测量对应。
| 型号 | FT9500 | FT9550 | FT9500L |
|---|---|---|---|
| 测量元素 | Al（13）～Bi（83） | ||
| X射线源 | 管电压：50（可变更）kV 管电流： 10～1000 µA | ||
| 检测器 | 半导体检测器（无需液氮） | ||
| X射线聚光 | 聚光导管方式 | ||
| 样品观察 | CCD摄像头（带变焦功能） | ||
| 对焦 | 激光对焦 | ||
| 滤波器 | 一次滤波器：3个位置（自动切换） | ||
| 样品区域 | X:240mm, Y:175mm X:220mm, Y:150mm, Z:150mm | X:420mm, Y:330mm X:400mm, Y:300mm, Z:50mm | X:840mm, Y:540mm X:400mm, Y:300mm, Z:50mm |
| 测量软件 | 薄膜FP法（zui大5层、10种元素）、检量线法、块体FP法（材料组成分析） | ||
| 安全功能 | 样品门联锁 | ||
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