FT9400 X射线荧光镀层厚度测量仪
参考价 | 面议 |
- 公司名称 惠州市华高仪器设备有限公司
- 品牌
- 型号 FT9400
- 所在地 惠州市
- 厂商性质 经销商
- 更新时间 2018/7/26 16:26:19
- 访问次数 538
联系方式:范志华 13790777908 查看联系方式
联系我们时请说明是仪器网上看到的信息,谢谢!
参考价 | 面议 |
联系方式:范志华 13790777908 查看联系方式
联系我们时请说明是仪器网上看到的信息,谢谢!
X射线荧光镀层厚度测量仪 FT9400系列
搭载双向分离工检测器(半导体检测器+比例计数管)
搭载在X射线能量分辨率上,优xiu的半导体检测器(起作用液化氮)和计数率优xiu的比例计数管,能够根据运用需要对应使用。特点是半导体检测器,能够区分Ni和Cu这样相似的元素。
X射线荧光镀层厚度测量仪 FT9400系列 锚点搭载在X射线能量分辨率上,优xiu的半导体检测器(起作用液化氮)和计数率优xiu的比例计数管,能够根据运用需要对应使用。特点是半导体检测器,能够区分Ni和Cu这样相似的元素。它有以下的特点:
1. 能够对Ni/Cu和Au/Ni/Cu不需要二次过滤的情况下进行测定
2.对于含Br的打印基板,可以做到不受Br干扰进行高精度的Au镀膜厚度测定
3.能够测定0.01μm以下极薄的Au镀膜
4. 薄膜FP软件
对应含铅的合金镀膜和多层镀膜等,适用于广泛的运用领域。
5.适用测定极微小部分
15μmΦ的准直管为标准装备。能够测定微小部分镀膜厚度。
6. 搭载75W高性能X射线管
7. 容易对微小领域进行观察
搭载了能4阶段切换的可变焦距光学系统。
8. 能够测定大型打印基板的大型平台
9. 依据照明,能够观察以往难以观察的样品
10. 搭载了防止有凹凸的样品碰撞的传感器
11. 利用伺服马达精确的驱动平台
12. 正确的对焦
利用激光能够正确得对焦测试样品。
13. 报告制作软件
运用微软的软件能够简单得把测定的数据制作成书面材料。
型号 | FT9400 | FT9450 | FT9455 |
---|---|---|---|
测量元素 | 原子序号Ti(22)~Bi(83) 原子序号21以下的元素可通过吸收法测量 | ||
X射线源 | 空冷式小型X射线管 管电压:50(可变更)kV 管电流: 10~1000 µA | ||
检测器 | 比例计数管+半导体检测器(无需液氮) | ||
准直器 | 4种类(0.015, 0.05, 0.1, 0.2 mmφ) | ||
X射线聚光 | 激光对焦 | ||
滤波器 | 一次滤波器: Mo-自动切换 | ||
样品区域 | X:240 mm, Y:170 mm X:220 mm, Y:150 mm, Z:150 mm | X:420 mm, Y:330 mm X:400 mm, Y:300 mm, Z:50 mm | X:700 mm, Y:600 mm X:400 mm, Y:300 mm, Z:15 mm |
测量软件 | 薄膜FP法(zui大5层、10种元素)、检量线法、块体FP法(材料组成分析) | ||
安全功能 | 样品室门联锁、样品冲突防止功能、仪器诊断功能 |
*您想获取产品的资料:
个人信息: