免费注册快速求购


分享
举报 评价

FT9400 X射线荧光镀层厚度测量仪

参考价面议
具体成交价以合同协议为准

联系方式:范志华 查看联系方式

联系我们时请说明是仪器网上看到的信息,谢谢!


该厂商其他产品

我也要出现在这里

X射线荧光镀层厚度测量仪 FT9400系列
搭载双向分离工检测器(半导体检测器+比例计数管)
搭载在X射线能量分辨率上,优xiu的半导体检测器(起作用液化氮)和计数率优xiu的比例计数管,能够根据运用需要对应使用。特点是半导体检测器,能够区分Ni和Cu这样相似的元素。

详细信息 在线询价

X射线荧光镀层厚度测量仪 FT9400系列

 

X射线荧光镀层厚度测量仪 FT9400系列  锚点搭载在X射线能量分辨率上,优xiu的半导体检测器(起作用液化氮)和计数率优xiu的比例计数管,能够根据运用需要对应使用。特点是半导体检测器,能够区分Ni和Cu这样相似的元素。它有以下的特点:

1. 能够对Ni/Cu和Au/Ni/Cu不需要二次过滤的情况下进行测定

2.对于含Br的打印基板,可以做到不受Br干扰进行高精度的Au镀膜厚度测定

3.能够测定0.01μm以下极薄的Au镀膜

4. 薄膜FP软件

对应含铅的合金镀膜和多层镀膜等,适用于广泛的运用领域。

5.适用测定极微小部分

15μmΦ的准直管为标准装备。能够测定微小部分镀膜厚度。

6. 搭载75W高性能X射线管

7. 容易对微小领域进行观察

搭载了能4阶段切换的可变焦距光学系统。

8. 能够测定大型打印基板的大型平台

9. 依据照明,能够观察以往难以观察的样品

10. 搭载了防止有凹凸的样品碰撞的传感器

11. 利用伺服马达精确的驱动平台

12. 正确的对焦

利用激光能够正确得对焦测试样品。

13. 报告制作软件

运用微软的软件能够简单得把测定的数据制作成书面材料。

型号FT9400FT9450FT9455
测量元素原子序号Ti(22)~Bi(83)
原子序号21以下的元素可通过吸收法测量
X射线源空冷式小型X射线管
管电压:50(可变更)kV
管电流: 10~1000 µA
检测器比例计数管+半导体检测器(无需液氮)
准直器4种类(0.015, 0.05, 0.1, 0.2 mmφ)
X射线聚光激光对焦
滤波器一次滤波器: Mo-自动切换
样品区域X:240 mm, Y:170 mm
X:220 mm, Y:150 mm, Z:150 mm
X:420 mm, Y:330 mm
X:400 mm, Y:300 mm, Z:50 mm
X:700 mm, Y:600 mm
X:400 mm, Y:300 mm, Z:15 mm
测量软件薄膜FP法(zui大5层、10种元素)、检量线法、块体FP法(材料组成分析)
安全功能样品室门联锁、样品冲突防止功能、仪器诊断功能

选购项

  • 电镀液分析(块体标准曲线)
  • 能谱匹配软件(材料辨别)
  • 扫描(强度面分析多点表示)软件

惠州市华高仪器设备有限公司

|

手机:13790777908

联系人:范志华

电话:86-0752-7168848

传真:86-0752-2778117

(联系我时,请说明是在仪器网上看到的,谢谢!)

同类产品推荐


提示

×

*您想获取产品的资料:

以上可多选,勾选其他,可自行输入要求

个人信息: