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DL10-1934B 数字式四探针测试计 四探针测试计 半导体四探针检测仪
| 参考价 | 面议 |
具体成交价以合同协议为准
- 公司名称 北京北信未来电子科技中心
- 品牌
- 型号 DL10-1934B
- 所在地 北京市
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2016/1/1 13:00:01
- 访问次数 287
| 参考价 | 面议 |
测量范围
电阻率：10-2～102Ω-cm；
方块电阻：10-1～103Ω/□；
电阻：10-3～9999Ω
数字式四探针测试计 四探针测试计 半导体四探针检测仪
型号:DL10-1934B
测量范围
电阻率：10-2～102Ω-cm；
方块电阻：10-1～103Ω/□；
电阻：10-3～9999Ω
可测半导体材料尺寸
直径：Φ15～100mm；
长（或高）度： ≤400mm
外形尺寸
主机 170mm（D）×130 mm（W）×50mm（H）
电源
功 耗：<1W；
电源适配器：
输入:220V±10% 50Hz；
输出:DC5V±10%
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