GaP薄膜表征2021/1/6

磁光（MO）效应既可以用作探测各种样品类型的磁化反转特性的工具，也可以用作通过样品中的感应磁化状态修改光偏振的有效方法。在透明样品中，可以使用法拉第效应（与介质中的磁感应场和光路成正比的光偏振旋转）来...

STMI-Z曲线2021/1/6

I（z）光谱学与LBH光谱学有关，可用于提供有关表面的微观功函数的z依赖性的信息。I（z）光谱学的下一个重要用途是测试STM笔尖质量。STM中的隧穿电流IT随着样本间距z为我Ť〜EXP（-2kz），衰...

STMI-V曲线2021/1/6

在I（V）光谱法（或电流成像隧道光谱法，CITS）中，在固定的Io和Vo下获取正常的地形图像。在图像反馈环路的每个点处中断，并将偏置电压设置为一系列电压Vi，并记录隧穿电流Ii。然后，电压返回到Vo，...

STM恒高模式2021/1/6

在STM中，在尖锐的导电和导电样品之间施加偏置电压，因此当样品从到达几埃时，会出现隧道电流，这表明非常接近样品。在恒定高度模式（CHM）下，STM扫描仪仅在平面上移动吸头，以便吸头和样品表面之间的电流...

STM概述2021/1/6

STM的主要技术是用于“形貌”数据采集的恒定电流和恒定高度模式，这是通过用于“功函数”（势垒高度）和“状态局部密度”（LDOS）轮廓采集，I（z）和I的光谱技术完成的。（V）代表表面化学和电子特性的曲...

扩散电阻模式2021/1/6

扩散电阻成像取决于使用与样品表面直接接触的导电原子力显微镜探针[1]。在上施加电压偏置，并通过恒定力模式下的采集形貌同时测量表面上位置的函数电流。可以很容易地看出，假设表面的接触电阻不会随位置变化，对...

SNOM透射模式2021/1/6

近场扫描显微镜（SNOM）的关键要素是非常紧密地沿样品扫描的一个小孔径（在我们的情况下为激光照明的光纤探头的一端），通常距样品小于10nm。目的探针-样品距离调节方法取决于对近场探针末端和样品之间的剪...

SNOM剪切力模式2021/1/6

目的探针-样品距离调节方法取决于对近场探针末端和样品之间的剪切力的检测[1]。基于剪切力的系统允许单独使用剪切力显微镜，或同时进行剪切力和近场成像，包括用于透明样品的透射模式，用于不透明样品的反射模式...

SNOM反射模式2021/1/6

近场扫描显微镜（SNOM）的关键要素是沿着样品非常近的距离（通常小于10nm）扫描的小孔径（在我们的情况下为激光照明光纤探针的一端）。目的探针-样品距离调节方法取决于近场探针末端与样品之间的剪切力检测...

SNOM荧光模式2021/1/6

近场扫描显微镜（SNOM）的关键要素是沿着样品非常近的距离（通常小于10nm）扫描的小孔径（在我们的情况下为激光照明光纤探针的一端）。目的探针-样品距离调节方法取决于近场探针末端与样品之间的剪切力检测...

扫描近场光学显微镜概述2021/1/6

经典光学显微镜的分辨能力受到阿贝衍射极限的限制，约为光学波长的一半。但是，可以克服此限制。如果在靠近物体的位置扫描金属板上的亚波长孔，则可以通过穿过该孔的检测光建立超分辨图像。基于这一原理的扫描近场显...

开尔文探针显微镜2021/1/6

开尔文探针力显微镜（扫描探针显微镜的开尔文模式）的发明是为了测量探针和样品之间的接触电势差[1]。目前，Kelvin模式基于两次通过技术。在遍中，使用标准的半接触模式（悬臂的机械激励）获取地形。在第二...

SI/TI晶圆的拉曼表征2021/1/6

由于拉曼扩散特异性，拉曼光谱成像可同时识别和定位许多分子种类。这可以表征振动，光学和电子特性，而其他测量技术很难观察到。拉曼光谱法要求大的测量效率，因为来自拉曼扩散的信号比其他光学表征技术要弱得多。新...

间歇接触方式2021/1/6

Binnig[1]*预见到带有摆动悬臂的扫描力显微镜的使用。在工作中[2,3]实现了使用摆动悬臂扫描的早期实验实现。证明了力梯度对悬臂频率偏移的影响以及非接触扫描样品表面的可能性。还必须注意，Duri...

扫描电容显微镜2021/1/6

描电容显微镜是一种动态EFM。在EFM中通常为[1]。悬臂直接由Vtip=Vdc+Vacsin（wt）偏置，其中Vac称为驱动电压。根据在半接触模式下次扫描期间定义的轮廓，在样品表面上方的某个高度h上...