Otsuka QE-2000是一套快速、准确的量子效率测量系统,可以测量粉末、溶液和固体等材料的量子效率,基本消除紫外杂散光的影响,此外,采用半球集成探测器,可实现高灵敏度且消除再激发功能,从而获得荧光粉的真正特性。可以测量的技术参数包括:量子效率(产率),激发波长依赖性,发射光谱PL激发光谱和EEM(激励排放矩阵)等。
量子效率测量系统QE2000-量子效率测试仪 产品描述:
量子效率测量系统QE2000-量子效率测试仪 是一套快速、准确的量子效率测量系统,可以测量粉末、溶液和固体等材料的量子效率,基本消除紫外杂散光的影响,此外,采用半球集成探测器,可实现高灵敏度且消除再激发功能,从而获得荧光粉的真正特性。可以测量的技术参数包括:量子效率(产率),激发波长依赖性,发射光谱PL激发光谱和EEM(激励排放矩阵)等。
工作原理:
QE-2000配备了集成半球的系统,具有各种*功能。优化的几何形状可将非发射性零件定位在外部,从而使自吸收效应小化,镜面照度约比现有的积分(全)球面高出两倍,还可轻松进行细胞装卸,以减少损坏球体内部的风险。QE-2000具有“真性”的再励消除功能。在包含再激励发射的条件下,不能获得真实的特性,因为其中包含了设备特性。利用积分球半球的优势,QE-2000可以使用消除再激励功能,荧光粉样品反射的激发光将在球体中进行漫反射,并且反射的激发光将再次采样,从而进行精确测量。与现有发出大量杂散光的探测器不同,Otsuka新发明了一种杂散光消除解决方案,用于QE-2000的阵列光谱仪的杂散光是现有模型的1/5(橙色光谱),可*地减少紫外线区域的杂散光。
量子效率测量系统QE2000-量子效率测试仪 产品亮点:
应用范围:
升级选项:
技术参数:
测量参数
激发光源
积分球
样品固定治具
功耗
软件
测量流程:
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