KLA 探针式表面轮廓仪 P-7KLA是半导体在线检测设备市场的供应商，在半导体、数据存储、 MEMS 、太阳能、光电子以及其他领域中有着*的*。P-7 是KL...

Film See FS-1™多波长椭偏仪采用寿命长 LED 光源和非移动 式部件椭偏探测器，可在操作简单的紧凑型椭偏仪中实现快速和可 靠地薄膜测量。...

KLA 探针式表面轮廓仪 P-17支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量，适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描...

Filmetrics 薄膜厚度测量仪测厚仪使生产晶片的测量变得简单实惠工艺工程师希望薄膜厚度测量是快速容易的，现在高精度的厚度成像技术让 Filmetrics ...

在质量控制、材料分类、合金鉴别、安全防范、事故调查等现场应用领域中，合金pai号鉴别、金属成分快速分析，对 实验室分析来说是一项极其严峻的挑战。现在，这一切发生...

Filmetrics F64-C 光学膜厚测量仪依靠 F64 *的光谱反射系统，可以很简单快速地获得产品薄膜厚度及 n 和 k 值的分布图。利用图形识别软件控制...

桌面式膜厚测量仪 Filmetrics F70 测量厚度上限可达 15 毫米可透光材料对可透光材料来说，色差共焦测量（ CTM）是一种非接触式的测量方式，多可同...

Filmetrics的精密光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析，几秒钟内就可测量结果。当测量需要在待测...

Filmetrics F3-CS 光学膜厚测量仪，主要针对于微小视野及微小样品测量设计。从产线的操作人员到技术人员都可以在短时间内测试比如聚对二甲苯和真空镀膜类...

手持分析仪 XL2100G XRF是价值优先选择，既提供具备离端 性能，配备高级电子设备，又能保 持对准即测的简易性，这是所有X 射线荧光（ XRF ）仪器的特...

Filmetrics F10-AR 薄膜分析仪 使得自动测试眼科涂层变得又快又简便。现在，不论生产线操作人员还是研发技术人员都能在几秒钟内检测和记录涂层情况。

Filmetrics 薄膜测厚仪 F54 优势桌面型膜厚测量仪的*24 小时、 Email、在线技术支持直观的分析软件附 加 特 性嵌入式在线诊断方式免费离线分...

纳米压痕仪专为各种材料的表征和开发过程中进行纳米级测量而设计。 该系统是一个*可升级，可扩展且经过生产验证的平台，全自动硬度测量可应用于质量控制和实验室环境。

iNano®纳米压痕仪可轻松测量薄膜、涂层和少量材料。 该仪器准确、灵活，并且用户友好，可以提供压痕、硬度、划痕和通用纳米级测试等多种纳米级机械测试。...

AutoSE-一键式全自动快速椭偏仪 全自动化&高集成度&可视化光斑操作简单，测试快速，为一般操作工人设计

智能型多功能椭偏仪是一款针对单层和多层薄膜进行简单，快速，精确表征和分析的工具。多功能性设计，配置灵活，具备多角度测量能力，可方便实现在线与离线配置切换。

MicroXAM-800 光学轮廓仪是一款基于白光干涉仪的光学轮廓仪，采用相位扫描干涉技术（PSI）对纳米级特征进行测量，以及采用垂直扫描干涉技术（VSI）对亚...

Zeta-20白光共聚焦是一款紧凑牢固的全集成光学轮廓显微镜，可以提供3D量测和成像功能。该系统采用ZDot™技术，可同时采集高分辨率3D数据和Tr...

薄膜分析仪 Filmetrics F10-RT不需要费时改变硬件配置， F10-RT-UV 仅需要透过单击鼠标就能够同时收集反射与透射光谱，不到一秒钟的时间，阵...

AVI-400系列 防震台 主动式防振台优于任何被动系统*无低频共振*振动恢复时间迅速（10MS）*反馈控制（无需校准）*无气压要求*无需设置时间*尺寸小*模块...