KLA 探针式表面轮廓仪 P-17

KLA 探针式表面轮廓仪 P-17支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量，适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达200mm而无需图像拼接。

KLA 探针式表面轮廓仪 P-17支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量，适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达200mm而无需图像拼接。

产品描述

KLA 探针式表面轮廓仪 P-17是第八代台式探针轮廓仪，是40多年的表面量测经验的结晶。该系统支持对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达200mm而无需图像拼接。

该系统结合了UltraLite^®传感器、恒力控制和超平扫描平台，因而具备出色的测量稳定性。 通过点击式平台控制、顶视和侧视光学系统以及带光学变焦的高分辨率相机等功能，程序设置简便快速。 P-17具备用于量化表面形貌的各种滤镜、调平和分析算法，可以支持2D或3D测量。 并通过图案识别、排序和特征检测实现全自动测量。

主要功能

·       台阶高度：几纳米至1000μm

·       微力恒力控制：0.03至50mg

·       样品全直径扫描，无需图像拼接

·       视频：500万像素高分辨率彩色摄像机

·       圆弧校正：消除由于探针的弧形运动引起的误差

·       软件：简单易用的软件界面

·       生产能力：通过测序、图案识别和SECS/GEM实现全自动化

主要应用

·       台阶高度：2D和3D台阶高度

·       纹理：2D和3D粗糙度和波纹度

·       形状：2D和3D翘曲和形状

·       应力：2D和3D薄膜应力

·       缺陷复检：2D和3D缺陷表面形貌

工业应用

·       大学、研究实验室和研究所

·       半导体和化合物半导体

·       LED：发光二极管

·       太阳能

·       MEMS：微机电系统

·       数据存储

·       汽车

·       医疗设备

·       还有更多：请与我们联系以满足您的要求