移动端
直播推荐
回放
回放
【仪器网 行业应用】冠层分析仪又叫叶面积指数仪，顾名思义是测定植物冠层结构的仪器。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，测算植物冠层的太阳直射光透过率、叶面积指数等，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。冠层分析仪可用于农作物、果树、森林内冠层受光状况的测量和分析;可对农田作物群体生长过程进行动态监测;也适用于农业、园艺、林业领域有关栽培、育种、植物群体对比与发展的研究与教学。
冠层分析仪在果树中的应用
叶面积指数是果树冠层生物学特征的一个重要参数，它可以影响果园的产量、品质以及光能的截获，在一定程度上决定了果园的生产效率。测量叶面积指数的方法有直接测量法和间接测量法，直接测量法具有破坏性，且费时费力、不能重复，操作困难难以测量叶面积的动态变化等。间接测量法分为相对生长法和光学法，应用比较广泛。
冠层分析仪就是属于光学法的，特点是携带方便，不需要进行额外的资料处理，可以直接给出叶面积指数值，原理是在假定植物冠层内的各元素随机分布，依据冠层间隙度或光学特性反演叶面积指数。缺点是测量所得叶面积指数有着较大的偏差。叶片的聚集效应越强，偏差越大。因此在测量时，一般需要用直接法校正。
测量时根据果园的大小。分别设置3-5个测量点，在每个测量点再分别用方框取样法和冠层分析法测量叶面积指数。方框取样法是将方框随机放在树冠上，将方框内的的叶片全部摘下，用叶面积仪测量框内的叶面积，然后根据树冠体积和栽植密度计算叶面积指数。测点的选择与冠层分析仪方法相同。
免责声明
- 凡本网注明“来源：仪器网”的所有作品，均为浙江兴旺宝明通网络有限公司-仪器网合法拥有版权或有权使用的作品，未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用上述作品。已经本网授权使用作品的，应在授权范围内使用，并注明“来源：仪器网”。违反上述声明者，本网将追究其相关法律责任。
- 本网转载并注明自其他来源（非仪器网）的作品，目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责，不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时，必须保留本网注明的作品第一来源，并自负版权等法律责任。
- 如涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起一周内与本网联系，否则视为放弃相关权利。
浙公网安备 33010602002722号
第四届全国光谱大会
展会城市：株洲市展会时间：2025-05-08