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SS1-STD3 SunScan冠层分析系统

2023年03月29日 08:54人气：162 来源: 点将（上海）科技股份有限公司 >> 进入该公司展台

用途：SS1-STD3 SunScan冠层分析系统是一款简便的测量和分析冠层中入射和透射光合有效辐射（PAR）的系统，提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息，如叶面积指数（LAI）。本系统不需要等待特殊的天气条件进行使用，可以在大多数光照条件下进行测量工作。

特点：

·可测量冠层中入射和透射光合有效辐射（PAR）；

·可直接显示叶面积指数（LAI）；

·阴天和晴天均可使用；

·理想的表型的应用程序。

技术参数：

Sunscan传感器
探测区域	长1米×宽13毫米，传感器间距15.6毫米
光谱范围	400~700nm（PAR）
测量时间	120毫秒
最大读数	2500 μmol.m-2.s-1
分辨率	0.3 μmol. m-2.s-1
线性	优于1%
精度	±10%
模拟输出	1mV/μmol. m-2.s-1
通讯端口	RS232，9针D型接口
防护等级	IP65
工作温度	0~60℃
尺寸	1300×100×130毫米
重量	1.7公斤
供电	4节AA碱性电池，可以使用1年
掌上数据管理器
显示屏	1/4 VGA防日光显示屏
操作系统	Windows Moble 6
显示选项	叶面积指数（LAI）、平均光合有效辐射、所有单个传感器的读数
防护等级	IP67
工作温度	-30~+60℃
跌落高度	1.2米
供电	可充电电池，可连续使用12小时
内存	>100MB可用
尺寸规格	165×95×45毫米
重量	450克

（本文来源：点将（上海）科技股份有限公司，转载请注明出处）

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