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EDX 4500 天瑞仪器EDX 4500X荧光光谱仪

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天瑞仪器EDX 4500X荧光光谱仪 ,的数字多道技术,让测试更快,计数率达到100000CPS,精度更高。在合金检测中效果更好;用于钢铁检测、全元素分析、有害元素检测(RoHS、卤素等)

详细信息 在线询价

  性能参数
  
  产品型号:EDX 4500
  
  产品名称:X荧光光谱仪
  
  测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)
  
  元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同)
  
  同时分析元素:一次性可测几十种元素
  
  分析精度:0.05% (含量高于96%以上的样品、21次测试稳定性)
  
  测量时间:60秒-200秒
  
  探测器能量分辨率为:145±5eV
  
  管压:5KV-50KV
  
  管流:50μA-1000μA
  
  测量对象状态:粉末、固体、液体
  
  输入电压:AC 110V/220V
  
  环境温度:15℃-30℃
  
  环境湿度:35%-70%
  
  外形尺寸:660mm×510mm×350mm
  
  样品腔体积:Φ320mm×100mm
  
  重量:65Kg
  
  性能特点
  
  高效超薄窗X光管,指标达到*水平
  
  的数字多道技术,让测试更快,计数率达到100000CPS,精度更高。在合金检测中效果更好
  
  SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比
  
  天瑞仪器产品—信噪比增强器(SNE),提高信号处理能力25倍以上
  
  低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好
  
  智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围
  
  自动稳谱装置保证了仪器工作的*性
  
  高信噪比的电子线路单元
  
  针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐
  
  解谱技术使谱峰分解,使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
  
  多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
  
  内置高清晰摄像头
  
  液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然
  
  标准配置
  
  高效超薄窗X光管
  
  SDD硅漂移探测器
  
  数字多道技术
  
  信噪比增强器 SNE
  
  钢铁行业测试配件
  
  光路增强系统
  
  高信噪比电子线路单元
  
  内置高清晰摄像头
  
  自动切换型准直器和滤光片
  
  自动稳谱装置
  
  三重安全保护模式
  
  相互独立的基体效应校正模型
  
  多变量非线性回归程序
  
  整体钢架结构,力度可靠的保证
  
  90mm×70mm的液晶屏
  
  真空泵
  
  应用领域
  
  钢铁检测、全元素分析、有害元素检测(RoHS、卤素等)


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