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梅特勒-托利多的 LabX® 实验室软件可在天平触摸屏上显示的灵活的 SOP 用户指南。 利用自动数据处理、计算和报告，具有 LabX 软件的天平可以轻松实现过程安全性和可追溯性要求，并支持您实现无纸化实验室。超越系列分析天平将获得的梅特勒-托利多称量技术与数十年的称量专业知识相结合，确保您快速、可靠地获得*的称量结果！
梅特勒XPE分析天平规格参数
| 产品 | 量程 | 可读性 | zui小称量值 (USP)，典型值 | 重复性 | 线性误差（典型值）± | ||
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| XPE 105 分析天平
| 120.0 g | 0.01 mg | 14.0 mg | 0.015 mg | 0.1 mg | ||
| XPE204
| 220.0 g | 0.1 mg | 80.0 mg | 0.05 mg | 0.2 mg | ||
| XPE205
| 220.0 g | 0.01 mg | 14.0 mg | 0.015 mg | 0.1 mg | ||
| XPE205DR
| 81.0 g; 220.0 g | 0.01 mg; 0.1 mg | 14.0 mg | 0.015 mg | 0.15 mg | ||
| XPE504
| 520.0 g | 0.1 mg | 80.0 mg | 0.08 mg | 0.4 mg |
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