• 可与双晶和单晶探头兼容。
• 宽泛的厚度范围：0.08毫米～635毫米，根据材料和所选探头而定。
• 使用双晶探头进行腐蚀测厚。
• 穿透涂层和回波到回波测量功能，用于测量表面带有漆层和涂层的材料。
• 内部氧化层/沉积物软件选项。
• 对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米。
• 使用频率范围为2.25 MHz～30 MHz的单晶探头，高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量。
• 多层软件选项可对多达4个不同层同时进行测量。
• 高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。
• 厚度、声速和渡越时间测量。
• 差分模式和缩减率模式。
• 时基B扫描模式；每次扫查可获得10000个可查读数。
• 带有数字式过滤器的Olympus高动态增益技术。
• 用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。
• 设计符合EN15317标准。

38DL PLUS超声波测厚仪产品应用

对塑料、金属、复合材料、玻璃、橡胶及陶瓷材料进行厚度测量

用户使用单晶探头可以精确测量金属、塑料、复合材料、玻璃、陶瓷及其它材料的厚度。我们提供各种频率、直径和连接器类型的单晶探头。用户使用高分辨率软件选项可以进行分辨率为0.001毫米的极其精确的厚度测量。

• 对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米。

• 在使用频率范围为2.25 MHz到30 MHz的单晶探头时，高分辨率软件选项可显示分辨率高达0.001毫米的测量值。

• 高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。

• 多层软件选项可对多达4个不同层的厚度同时进行测量。

• 测量厚度、声速或渡越时间。

• 带有默认设置和自定义设置的自动调用应用简化了厚度测量操作。

商品参数

测量
双晶探头测量模式	从激励脉冲后的精确延时到*个回波之间的时间间隔。
穿透涂层测量模式	利用单个底面回波（使用D7906-SM和D7908探头），测量金属的实际厚度和涂层厚度。
穿透漆层回波到回波测量模式	在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度。
单晶探头测量模式	模式1：激励脉冲与个底面回波之间的时间间隔。模式2：延迟线回波与个底面回波之间的时间间隔（使用延迟线式或水浸式探头）。模式3：在激励脉冲之后，位于*个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔（使用延迟线式或水浸式探头）。氧化层模式：可选。多层模式：可选。
厚度范围	0.080毫米～635.00毫米，视材料、探头表面条件、温度和所选配置而定。
材料声速范围	0.508 mm/μs～13.998 mm/μs
分辨率（可选择）	低分辨率：0.1毫米标准分辨率：0.01毫米高分辨率（可选项）：0.001毫米
探头频率范围	标准：2.0 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（可选项）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）

一般规格
工作温度范围	-10°C～50°C
键区	密封、以色彩区分功能的键盘，带有触感及声音反馈。
机壳	防撞击、防水、装有密封垫的机壳；机壳上的接口密封。设计符合IP67标准。
外型尺寸（宽 x 高 x 厚）	总体尺寸：125毫米x211毫米x46毫米
重量	0.814公斤
电源	AC/DC适配器，24 V；锂离子电池，23.760 Wh；或4节AA辅助电池。
锂离子电池供电时间	工作时间：zui少12.6小时，一般14小时，zui多14.7小时。快速充电：2小时到3小时。
标准	设计符合EN15317标准。

显示
彩色透反VGA显示	液晶显示，显示屏尺寸：56.16毫米 X 74.88毫米
检波	全波、RF波、正半波、负半波

输入/输出
USB	1.0从接口。
RS-232	有。
存储卡	zui大容量：2 GB外置MicroSD存储卡。
视频输出	VGA输出标准。

内置数据记录器
数据记录器	38DL PLUS通过标准RS-232串口或USB端口识别、存储、回放、清除、传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。
容量	475000个厚度测量读数，或20000个带厚度值的波形。
文件名称、ID编码及注释	32位字符的文件名，20位字符的字母数字位码，每个位有四个注释。
文件结构	9个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构。
报告	机载报告总结了数据统计、带有位置信息的zui小值/zui大值、zui小值回顾、文件比较及报警报告。