X-MaxN大面积SDD能谱仪

X-MaxN 的晶体尺寸从适合于微米分析的20 mm2到纳米材料分析150 mm2的共四种可选。尤其是150 mm2为当今晶体面积zui大的探测器，分析速度至少是普通探测器的两倍。

一代X-MaxN大面积SDD能谱仪于2012年8月横空出世，携硅晶体、电路设计以及技术带来新一代能谱仪的全面改观。

X-MaxN 的晶体尺寸从适合于微米分析的20 mm2到纳米材料分析150 mm2的共四种可选。尤其是150 mm2为当今晶体面积zui大的探测器，分析速度至少是普通探测器的两倍。

总览

• 探测器晶体尺寸可选，分别为150 mm2，80 mm2，50 mm2，20 mm2
• 无论晶体面积或大或小，X-MaxN 的分辨率始终如一的好——并符合标准ISO15632:2012
• 无论晶体尺寸如何，能谱仪外管尺寸及在电镜中的位置**，确保相同条件下，计数率的增加只源于晶体尺寸的增加
• 强大的低能端分析，所有晶体面积的能谱仪均保证由Be开始
• 与上一代X-Max同，无论SEM或FIB均使用同一界面