检测分析测试测定测量化验镀层厚度仪器设备

检测分析测试测定测量化验镀层厚度仪器设备
X荧光测量化验镀层厚度机器设备分析含量：ppm～99.99％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
环境温度：15℃～30℃

检测分析测试测定测量化验镀层厚度仪器设备

   针对电镀各个领域的广泛应用，根据优化产品性能和提安全防护等级的需求，特别设计该款仪器。

应用新一代的压电源和X光管，提产品的可靠性；利用新X光管的大功率提仪器的测试效率。

可测元素范围：
钛() – 铀(U)

可测量厚度范围：
原子序22-25，0.1-0.8μm
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm

分析含量：ppm～99.99％

任意多个可选择的分析和识别模型

相互独立的基体效应校正模型

多变量非线性回归程序

环境温度：15℃～30℃

X-射线管：油冷,超微细对焦
压：0-50KV(程控)
准直器：
固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm
电脑系统：IBM相容,17”显示器
综合性能:镀层分析  
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.  
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.

定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
   让客户满意，为客户创造大的价值是我们始终追求的目标，因为我们坚信，客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图！

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