M400粗糙度仪

MarSurf M 400.*好的移动设备测量室以及生产领域都越来越需要无导块扫描的表面评估。这通常需要更熟练的操作员，更多时间和更多调整工作。MarSurf M 400 在“移动表面度量”范围内提供了必要的功能，而且快速、简单易用。 移动和固定测量仪器 粗糙度和波纹度测量 扫描长度高达 26 mm 超过 50 R，W 和 P 表面参数 根据标准自动选择截止和扫描长度 动态校准功能 驱动装置和评估仪器之间可选有线和蓝牙连接 (4 m) 磁性测头支架（独立测头）BFW 250 机动测头归零设置（*大 7.5 mm）

一、技术数据

测量原则探针法

输入BFW 无导块系统
测量范围 mm+/- 250 µm（高达 +/- 750 µm，3x 测杆长度）
轮廓分辨率测量范围 +/- 250 µm：8 nm
测量范围 +/- 25 µm：0.8 nm
过滤器符合 ISO/JIS 标准ISO 11562 标准高斯滤波
ISO 13565 标准滤波
采样长度数量符合 ISO/JIS1-5
接触速度0,2 mm/s; 1,0 mm/s
测量力 (N)0.75 mN
重量驱动单元约 0.9 kg
重量测量仪约 1.0 kg
表面参数超过 50 种符合当前 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R-、P- 和 W

二、应用

机器建造：轴承、轴、支架、阀门
汽车工业：转向、刹车系统、变速箱、机轴、凸轮轴、气缸盖、气缸体、涡轮增压器
钢铁工业：测量金属板表面、测量辊表面
医疗：髋关节和膝关节内用假体的表面粗糙度测量
航空：涡轮组件。

三、附件

测量立柱：
ST-D、ST-F 和 ST-G
测量立柱上的支架
其他附件：
CT 120 XY 工作台，平行虎钳，V 形块
用于带 BFW 测头系统的测杆