QNix1200一体化设计，只需调零，无需校准，使用极其简单。其中QNix1200为磁性测厚仪，可以用来测量钢、铁等磁性基体上的涂层、镀层；操作简单，携带方便，精度高，探头和机身成90°直角设计，可满足一些狭小空间（如管道内壁）的测量，为广大用户所喜爱。

 QNix® 1200

   

QNix1200一体化设计，只需调零，无需校准，使用极其简单。其中QNix1200为磁性测厚仪，可以用来测量钢、铁等磁性基体上的涂层、镀层；操作简单，携带方便，精度高，探头和机身成90°直角设计，可满足一些狭小空间（如管道内壁）的测量，为广大用户所喜爱。
产品优点：
•　只需调零，无需校准
•　双探头双用途
•　自动开关机
•　探头直角设计，方便测量管内壁等狭小空间

技术参数
磁性基体	Fe探头（QNix1200）
测量范围	QNix1200型 : 0-2000um
精度	0-50um:≤±1um 50-1000um:≤±1.5%读数 1000-2000um≤±3%
小接触面	10×10mm
小曲率半径	凸面：5mm 凹面：25mm
小基体厚度	Fe:0.2mm/NFe:0.05mm
温度补偿范围	0-60℃
显示	LCD液晶
探头	红宝石固定式
电源	1×9V电池
尺寸	100×60×27mm
重量	110g
特点	直角设计方便测量管内壁
存储	1500记忆型可存储数据
数据传输	1500记忆型可连接计算机

德国QNIX公司相关型号：

                  测量范围：0-2000微米、0-5000微米，探头：一体探头、分体探头。 任意组合，一机多用。

                 测量范围：0-500微米，0-2000微米、0-5000微米，探头：无线探头、一体探头、分体探头。
                 任意组合，一机多用，增加无线探头功能，

QNix® 1200 und QNix® 1500 im Überblick

QNix® 1200

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Messgerät mit 3-Punktauflage für FE-Substrate sind ergonomisch, schnell und robust.

QNix® 1500

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Messgerät mit 3-Punktauflage und 2 unabhängigen Messsonden für Fe- und NFe-Substrate. Das Gerät kann gedreht und dadurch Messverfahren einfach gewechselt werden.