精度高、稳定性好强大的数据统计、处理功能测量范围宽NIST认证的标准片服务及支持应用CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点，在质量管理到不良品分析有着广泛的应用
• 精度高、稳定性好
• 强大的数据统计、处理功能
• 测量范围宽
• NIST认证的标准片
• 服务及支持
应用
CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点，在质量管理到不良品分析有着广泛的应用。
行业
用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器行业
技术参数
| 主要规格 | 规格描述 | |||
| X射线激发系统 | 垂直上照式X射线光学系统 | |||
| 空冷式微聚焦型X射线管，Be窗 | ||||
| 标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等 | ||||
| 功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选 | ||||
| 装备有安全防射线光闸 | ||||
| 二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 | ||||
| 准直器程控交换系统 | 最多可同时装配6种规格的准直器 | |||
| 多种规格尺寸准直器任选： －圆形，如4、6、8、12、20 mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 | ||||
| 测量斑点尺寸 | 在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器) | |||
| 在12.7mm聚焦距离时，测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器) | ||||
| 样品室 | CMI900 | CMI950 | ||
| －样品室结构 | 开槽式样品室 | 开闭式样品室 | ||
| －样品台尺寸 | 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | ||
| －XY轴程控移动范围 | 标准：152.4 x 177.8mm 还有5种规格任选 | 300mm x 300mm | ||
| －Z轴程控移动高度 | 43.18mm | XYZ程控时，152.4mm XY轴手动时，269.2mm | ||
| －XYZ三轴控制方式 | 多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制 | |||
| －样品观察系统 | 高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。 | |||
| 激光自动对焦功能 | ||||
| 可变焦距控制功能和固定焦距控制功能 | ||||
| 计算机系统配置 | IBM计算机 彩色喷墨打印机 | |||
| 分析应用软件 | 操作系统：Windows2000中文平台 分析软件包：SmartLink FP软件包 | |||
| －测厚范围 | 可测定厚度范围：取决于您的具体应用。 | |||
| －基本分析功能 | 采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。 | |||
| 样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) | ||||
| 可检测元素范围：Ti22 – U92 | ||||
| | 可同时测定5层/15种元素/共存元素校正 | |||
| 贵金属检测，如Au karat评价 | ||||
| | 材料和合金元素分析， | |||
| 材料鉴别和分类检测 | ||||
| 液体样品分析，如镀液中的金属元素含量 | ||||
| 多达4个样品的光谱同时显示和比较 | ||||
| 元素光谱定性分析 | ||||
| －调整和校正功能 | 系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移 | |||
| －测量自动化功能 | 鼠标激活测量模式：“Point and Shoot” | |||
| 多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式 | ||||
| 测量位置预览功能 | ||||
| 激光对焦和自动对焦功能 | ||||
| －样品台程控功能 | 设定测量点 | |||
| 连续多点测量 | ||||
| 测量位置预览(图表显示) | ||||
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