X射线测厚仪

设备亮点1、探头采用低能量的X射线，核心部件欧美进口，污染、环保豁免、寿命长

设备亮点

1、探头

采用低能量的X射线，核心部件欧美进口，污染、环保豁免、寿命长。X光束的能量可以通过调节加速电压来优化测量范围2、扫描架

O型扫描架，采用钢板一体折弯而成，不易变形，全封闭式设计。

3、驱动、通讯

采用高精度伺服电机，定位精度高，重复性好，速度闭环控制功能；

采用Ethercat无延时实时网络通讯，信号采样周期10ms，几台测厚仪做同点测量时，确保几台测厚仪的扫面路径一致

4、差值算法

同点测量应用时，X射线测厚仪不能使用简单的面密度差值算法，我公司采用美国公司的专业X射线测厚仪的差值算法，精准的将净涂布量的面密度计算出来

应用范围：CPP/CPE、PET film、PC/PMMA film、Optical film、Nonwovens、PI film、PVB film、Copper/Aluminum foil 等！

测量范围: 6um – 5mm

测量精度: 0.1um

响应时间: 10ms