泰勒CCI MP光学轮廓仪

无论对分析速度的要求有多高，我们创新的CCI光学装置非接触式光学轮廓仪都能为您提供精密的3D表面测量结果

无论对分析速度的要求有多高，我们创新的CCI光学装置非接触式光学轮廓仪都能为您提供精密的3D表面测量结果。 高分辨率相机与1/10埃垂直分辨率相结合，无论是测量非常粗糙的表面，还是测量极其光滑的表面，都能获得令人不可思议的详细分析。

CCI光学装置与光学研究人员和科学家的专业知识保持与时俱进，能满足光学领域的严苛测量要求。 CCI光学装置将强大的尺寸及粗糙度分析软件与的工程设计融于一体，是一种非常适合用于粗糙度测量的检验工具。 CCI的薄膜厚度测量功能，进一步完善了为光学工业而设计的出色计量包装 。

• 2048 x 2048像素阵列，视场广，高分辨率
• 全量程0.1埃的分辨率
• 轻松测量反射率为0.3% - 99%的各种表面
• RMS重复精度<0.2埃，阶跃高度重复精度<0.1%
• 多语言版本的64位控制和分析软件