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瑞士TESA ETALON TCM200测量显微镜

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模块化结构设计, 可根据需要进行光学长度测量或表面金相检验. 优化的照明系统, 精密滚珠轴承工作台(150X100, 250X150mm 两种), 线性金属光栅尺组成的光电测量系统, 计算机内核的数据处理单元, RS232 数字输出, 出厂前的检验合格证书.

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主要特征

模块化结构设计, 可根据需要进行光学长度测量或表面金相检验. 优化的照明系统, 精密滚珠轴承工作台(150X100, 250X150mm 两种), 线性金属光栅尺组成的光电测量系统, 计算机内核的数据处理单元, RS232 数字输出, 出厂前的检验合格证书.

  • 三坐标的非接触测量,无测量力
  • 测量分辨率0.5μm
  • zui小的允许误差保证了测量的高精度, 如150mm 长度测量的允许误差仅为2.6μm
  • 宽大的测量空间, 长度方向没有空间限制
  • 放大倍率达1000倍的表面结构检验, 光源照明充分
  • 视频摄像系统可进一步进行图像分析

主机及其配置

 

订货号/Order Number06839006068390070683900806839009
带双目镜的主机····
35瓦透射冷光源····
90瓦反射冷光源····
测量范围为150X100毫米的工作台· · 
测量范围为250X150毫米的工作台 · ·
可进行Z轴测量··  
数据处理单元QUADRA-CHECK 220  ··
QUADRA-CHECK 230··  

 

 

技术指标

订货号06839006068390070683900806839009
测量范围(mm)150 X 100250 X 150150 X 100250 X 150
轴向zui大允许误差(1.8+0.005L) μm, (L in mm)(2.5+0.01L) μm (L in mm)(1.8+0.005L) μm (L in mm)(2.5+0.01L) μm (L in mm)
主机重量110kg140kg110kg140kg
外型尺寸(宽X高X深)356 X 662 X 540


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