JEM-3100F JEM-3100F 透射电子显微镜

JEM-3100F 场发射透射电子显微镜是这一级别电镜中的一款,分辨率可达0.17nm.如此高的分辨率在纳米材料研究领域效果突出.控制系统使用艺术级的数字技术, 充分强化了操作的简易性。

JEM-3100F 透射电子显微镜

JEM-3100F 场发射透射电子显微镜是这一级别电镜中的一款,分辨率可达0.17nm.如此高的分辨率在纳米材料研究领域效果突出.控制系统使用艺术级的数字技术, 充分强化了操作的简易性。

拥有300KV加速电压,JEM-3100F不仅很适合过程测试,还具有高速检查经聚焦离子束处理过的比较厚的半导体器件截面的能力。

JEM-3100F是可广泛用于从研究开发到制造的*的工具;包括生物,基本材料研究和开发, 实效分析和质量控制等。

JEM-3100F 场发射透射电子显微镜特点

· 分辨率达到0.17nm,是这一级别电镜中的。

· 理想的分析用高亮度,高稳定性的肖特基电子枪。

· 的5轴马达驱动测角器加强样品台精确度。

· 操作简易的全数字化控制。

· 加载JEOL生产的扫描透射（STEM）系统和能谱仪（EDS）可升级为支持微区元素分析。