X荧光光谱仪

X荧光光谱仪能量色散 X 荧光光谱仪 XTU-50 镀层膜厚分析仪 目 录 一、产品型号 1.1 产品型号 二、仪器介绍 2.1 仪器概述 2.2 性能优势 2.3 技术指标 三、仪器硬件主体配置 3.1 设备外观 3.1 探测系统 3

能量色散X荧光光谱仪
 
 
XTU-50 镀层膜厚分析仪

 
目    录 
 
一、产品型号
1.1 产品型号
二、仪器介绍
2.1 仪器概述
2.2 性能优势
2.3 技术指标
三、仪器硬件主体配置
  3.1 设备外观
  3.1 探测系统
  3.2 X光管
3.3 高压电源
3.4 微动平台
  3.5 高分辨率CCD­
  3.6 散热系统
  3.7 防辐射安全系统
四、仪器软件配置
  4.1 软件界面
  4.2 功能特点 
五、仪器的外围设备
  5.1 计算机
  5.2 喷墨打印机
5.2 仪器相关配件及技术资料
六、技术支持及售后服务
 
 
 
 
一、产品型号

3.1 设备外观
3.2 探测系统
	类型：AMPTEK SDD(整套原装美国进口) Be窗­­­：1mil(0.0254mm) 分辨率：129±5eV 系统峰背比：≥ 6200/1 能量响应范围：1keV — 40keV 推荐计数率：50000cps
3.3 X光管
	型号：美国瓦里安 电    压: 0 ~ 50 kV 电流: 1.0 mA 功率: 50 W 灯丝电压: 2.0V 灯丝电流: 1.7 A 射线取出角：12° 靶    材：Mo Be窗厚度：400um
3.4 高压电源
	型号：Spellman(美国) 输入电压: DC +24V±10% 输入电流：4.0A（） 输出电压: 0 -50KV & 1mA 功率：50W 电压调整率：0.01% （从空载到满载） 电流调整率：0.01% （从空载到满载） 纹波系数：0.1% （P-P值） 8小时稳定性：≤0.05%
3.5 微动平台
	载物测试平台，微调装置在仪器外面，结合260万像素的高清CCD，对测试样品进行精确定位，防止样品放置好后关闭样品盖产生振动而使测试位置发生变化导致测试不准确；
3.6 高分辨率CCD
	260万像素的高清CCD摄像头，可有效的实时观察测试区域状况，并拍下物料照片，作为检测报告的组成部分。
3.7 散热系统
	高效三维散热系统，大幅度提供仪器的可靠性、稳定性。

4.1 仪器操作软件功能

1、软件界面

2、功能特点

1.  预置多条工作曲线，涵盖铜基体、铁基体、锌基体等基体类型的常见镀层，可满足用户常规镀层测量的要求； 2.  华唯VisualFp基本参数法分析软件，在分析镀层厚度的同时分析基材及镀层成分含量，实用价值大大超出客户的想象空间； 3.  人性化的软件界面与操作方法，使用图形显示技术，既方便又直观；结合大量操作经验优化操作步骤，极大方便用户； 4.  完善的安全连锁功能：配合硬件电路的防护措施，在不安全的操作发生时自动切断X射线确保操作员不受X射线伤害； 5.  数据管理：由数据库支持的专业化报表生成、查询打印等功能极大方便企业管理； 6.  智能化软件保护，避免不当操作对光谱仪的损伤，延长仪器使用寿命； 7.  数据自动保存：所有样品测试后的数据均会自动保存，测试结果具有可追溯性； 8.  稳定性自检功能：可即时对仪器当前稳定性进行自动检测； 9.  软件具有对多次测试结果的统计功能，极大地方便客户数据管理。

5.1 仪器标配设备参数

5.1.1 计算机 CPU：intel双核     内存:2G 硬盘：500G         显示器：19英寸 5.1.2 喷墨打印机 彩色喷墨印机5.1.3 仪器随机配件及技术资料                          测试薄膜           50片 保险管             五个 保修卡             一份 合格证             一份        仪器操作手册       一本 辐射安全检测报告   一份