新款快速手持式X射线荧光分析仪-X-MET7000eXpress新款X-MET7000eXpress在检测痕量元素时表现出性能,同时保证分析速度不受影响
新款X-MET7000 eXpress在检测痕量元素时表现出性能,同时保证分析速度不受影响。X-MET7000 eXpress 使用牛津仪器 40 kV 的X射线光管和高分辨率高计数率硅漂移探测器(SDD)。
我们的新款手持式X射线荧光分析仪拥有以下优势:
X-MET7000 eXpress 对材料进行分析、鉴定、筛选,其速度比X-MET7000 QuickSort 快4倍。
这款手持式X射线荧光分析仪是废旧金属回收、合金材料可靠性鉴定及环境重金属检测等行业快速分析的理想工具。
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