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研究型DIC微分干涉工业显微JXM-4100

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研究型DIC微分干涉工业显微JXM-4100研究型DIC微分干涉工业显微镜JXM-4100是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业需求而开发的。作为高级金相显微镜用户在使用时能够体验其性能,可广泛应用于半导体、FPD、电路封装、

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研究型DIC微分干涉工业显微JXM-4100

研究型DIC微分干涉工业显微镜JXM-4100是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业需求而开发的。作为高级金相显微镜用户在使用时能够体验其性能,可广泛应用于半导体、FPD、电路封装、电路基板、材料、铸件/金属/陶瓷部件、精密模具的检测,可观察较厚的标本。稳定、高品质的光学系统使成像更清晰,衬度更好。符合人机工程学要求的设计,使您在工作中感到舒适和放松。

技术规格

观察头

30°铰链式三目(50mm-75mm

目镜

WF10×/25mm

WF10×/20mm,0.1mm十字分划板

物镜

平场无限远长工作距离明暗场物镜:

5×/0.1B.D/W.D.29.4mm

10×/0.25B.D/W.D.16mm

20×/0.40B.D/W.D.10.6mm

40×/0.60B.D/W.D.5.4mm

50×/0.55B.D/W.D.5.1mm

80×/0.75B.D/W.D.4mm

100×/0.80B.D/W.D.3mm

转换器

DIC插孔五孔转换器

平台

双层移动平台

平台尺寸: 190mm×140mm

移动范围:50mm×40mm

滤色片

插板式滤色片(绿、蓝、中性)

调焦

粗、微动同轴调焦,采用齿轮齿条传动机构 微动格值0.002mm

光源

带孔径光栏和视场光栏,卤素灯12V/50W, AC85V-230V,亮度可调节

偏光装置

检偏镜可360度转动,起偏镜、 检偏镜均可移出光路

检测工具

0.01mm测量尺

可供附件

可选附件

二维测量软件

专业金相图像分析软件

卤素灯12V/100W

测微目镜

130万、200万、300万、500万像素CMOS电子目镜

平场无限远长工作距离明暗场物镜:50×/0.55B.D/W.D.5.1mm

80×/0.75B.D/W.D.4mm100×/0.80B.D/W.D.3mm

精密载物台:X-Y行程25mm×25mm,移动精度<5um,数显手轮zui小值:0.1um,360°旋转盘

摄影装置及CCD接口0.5×0.57×0.75×

DIC10×20×40×100×

压平机

彩色1/3CCD 520条线

特点说明

1 无限远光学系统。

2 采用长寿命卤素灯光源的,光效率更高。

3 明暗场、偏光、微分干涉功能。

4 采用非球面Kohler照明,增加观察亮度。

5 WF10×Φ25)超大视野目镜、长工作距离明暗场金相物镜。

6 可插DIC微分干涉装置的五孔转换器。

DIC:用诺曼斯基微分干涉衬比法观察,现己被认为检验材料、金属和半导体结构的手段。

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