日立分析仪器OXFORD-243E手持式涂镀层测厚仪是一款灵便、易用的仪器，专为金属表面处理者设计。配置的单探头可测量铁质底上所有金属镀层，即使在极小的、形状特殊的或表面粗糙的样品上都可以进行测量。这款测厚仪是紧固件行业应用的理想工具，采用基于相位的电涡流技术。OXFORD-243E手持式测厚仪易于用户控制，并且可以同X射线荧光测厚仪的准确性和精密性媲美，并且免去了对多探头、操作培训和持续保养的需要。
测量范围：
| 铁上镀层 镀层厚度范围 探头 |
| Zn 0–38μm ECP-M |
| Cd ′ 0–38μm ECP-M |
| Cr 0–38μm ECP-M |
| Cu 0–10μm ECP-M |
技术参数及功能：
| 准确度：相对标准片±3% |
| 精确度：0.3% |
| 分辨率：0.1μm |
| 电涡流：遵循DIN50984, BS5411 Part 3, ISO 2360, ISO 21968草案, ASTM B499, 及ASTM E376 |
| 存储量：26,500 条存储读数 |
| 尺寸：14.9 x 7.94 x 3.02 cm |
| 重量：0.26 kg 包括电池 |
| 单位：英制和公制的自动转换 |
| 接口：RS-232串行接口，波特率可调，用于下载至打印机或计算机 |
| 显示屏：三位数LCD液晶显示 |
| 电池：9伏碱性电池，65小时连续使用 |
| 的ECP-M探头：ECP-M探头专为较难测量的金属覆层设计，此单探头可以测量，铁质底材上几乎所有金属覆层，例如锌、镍、铜、铬和镉。更小的探针为极小的、形状特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的测量。 |
ECP-M探头规格(mm)
| 很小凸面半径 | 1.143 |
| 很小凹面半径 | 1.524 |
| 测量高度 | 101.6 |
| 很小测量直径 | 2.286 |
| 底材很小 | 304.8 |
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