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返回产品中心>显微光谱测量系统-MicroTEQ-B1MicroTEQ-B1显微光谱测量系统，具备透反射测量功能
MicroTEQ-B1显微光谱测量系统，具备透反射测量功能。系统选用了共焦收光方式，形成了较小的收光面；除此之外，视野+成像+收光+物面的共轭，可使观察和测试同时进行。系统中的显微反射测量模块可适配市面上大部分主流显微镜，满足客户对显微镜的不同需求。
成像照片
下图为使用10X物镜对50um小孔进行透射率测量时的聚焦和实测画面。
开启照明光源
开启透射光源，关闭照明光源
实测图谱
系统参数
| 型号 | MicroTEQ-B1 |
| 光谱仪 | 可根据情况自行选配 |
| 显微反射测量模块 | 兼容大部分主流显微镜 |
| 尺寸 | 220x172x68 mm |
| 重量 | 2.8 kg |
| 支持波段 | 400-700 nm |
| 反射照明支持相机尺寸 | 1/2” |
| 测量光斑 | a. 10 um @ 10x 物镜 @ 100 um 光纤 |
| 50 um @ 10x 物镜 @ 500 um 光纤 |
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