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返回产品中心>型号:Vanta Element-S用途:分析镁(Mg)、铝(Al)、硅(Si)、硫(S)和磷(P)探测器:硅漂移探测器(SDD)窗口:聚丙烯纺织纤维(Prolene)窗口,带有聚酰亚胺网格背衬激励源:4瓦特X射线管,50 kV银(Ag)阳极靶材
Vanta Element手持式XRF系列分析仪可以对元素进行分析,从而可使用户以实惠的价格快速完成合号的辨别和分拣。这个系列有两个高性价比型号:
Vanta Element分析仪可以实惠的价格完成合金辨别
Vanta Element-S分析仪可以实惠的价格完成合金辨别,并探测到包含镁(Mg)、铝(Al)、硅(Si)、硫(S)和磷(P)在内的轻元素
这两种型号的分析仪都可以快速辨别合号,并在屏幕上清楚地显示牌号对比信息,从而可加速金属检测,有效完成废料分拣、金属制造和贵金属分析等应用。
类似于智能手机的用户界面,易于学习,使用方便,有助于简化用户的培训过程和分拣过程。
Vanta Element系列分析仪具有连通性能,有助于简化废料金属的回收和质量控制过程。
Vanta分析仪的电子部件
Axon技术的稳定性和计数率
具有无线连通性能(可选配),可方便地将数据传输到网络上的文件夹中
使用奥林巴斯的科学云系统可以实现云数据存储,并可实时以远程方式查看数据
直接将数据导出到USB驱动盘中。
用于存储结果的1 GB工业用microSD卡
这款分析仪可用于条件恶劣的环境中,且其拥有成本较低。
符合IP54评级标准,具有防尘和防潮的特性。
通过了坠落测试(MIL-STD-810G),可避免分析仪在坠落时受到损坏,从而减少了对分析仪进行高成本维修的需求。
经过评定,在-10 °C到45 °C的温度范围内,可以持续进行检测。
防磨不锈钢面板。
无需使用工具即可方便地更换窗口。
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