基本参数法基本参数法(FP:FundamentalParameters)是X射线荧光领域的一项重要算法,是近些年XRF厂商和相关研究单位关注的重点
• 基本参数法
基本参数法(FP: Fundamental Parameters)是X射线荧光领域的一项重要算法,是近些年XRF厂商和相关研究单位关注的重点。
Criss和Birks于1968年首先提出用基本参数校正元素间吸收增强效应。随后几十年,基本参数库逐步完善,相关理论计算公式逐步被证明和应用,通常基本参数法计算的范围有:
基本参数法是对一束X射线光激发样品,产生元素荧光射线过程中的质量吸收系数、跃迁比、谱线分数、荧光截面、荧光产额等计算是基本参数库的内涵,软件采用了基本参数库就可称为基本参数法,显然仅仅采用了理论基本参数库是远远不够的,X射线荧光过程中,仍有许多物理学现象或谱处理尚没有现成的数据库或理论公式。比如:探测器的某些效应、背景的扣除等等,尚有很大研究空间,这也是各XRF厂商基本参数法性能差异之所在。
全息基本参数法(Holospec FP®)是安科慧生研发人员历时十几年,在借助已有成熟的基本参数库以及发表的理论公式基础上,经过对XRF大量物理学实验,进一步开发了一系列数学模型(Advanced MM)。结合研发人员对软件开发技术的精通,2019年颁布的全息基本参数法,也是先商品化应用的基本参数法。
安科慧生研发人员在如下方面注入精力,Holospec FP 2.0 具备如下特点和优势:
1)完整性
2)全谱拟合
3)通用性
4)快速
5)可视化与支持开发
反向迭代是对未知样品计算定量的过程。其步骤是:
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